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低功耗驗(yàn)證方法學(xué)

低功耗驗(yàn)證方法學(xué)

定  價(jià):32 元

        

  • 作者:(美),迦奇拉 ,(Srikanth Jadcherla),等 著 劉雷波 ,夏宇聞 譯
  • 出版時(shí)間:2012/8/1
  • ISBN:9787512408494
  • 出 版 社:北京航空航天大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TM02 
  • 頁(yè)碼:179
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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    《國(guó)外數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)經(jīng)典教材系列:低功耗驗(yàn)證方法學(xué)》分析歸納了多電壓低功耗設(shè)計(jì)仿真驗(yàn)證技術(shù)中幾乎所有的關(guān)鍵問題,并提出了十分重要的設(shè)計(jì)驗(yàn)證原則和規(guī)范。內(nèi)容包括:多電壓電源管理基礎(chǔ)、電源管理隱患、狀態(tài)保持、多電壓測(cè)試平臺(tái)的架構(gòu)、多電壓驗(yàn)證、動(dòng)態(tài)驗(yàn)證、規(guī)則及指導(dǎo)原則等。
    《國(guó)外數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)經(jīng)典教材系列:低功耗驗(yàn)證方法學(xué)》是任何正在設(shè)計(jì)或準(zhǔn)備設(shè)計(jì)低功耗應(yīng)用系統(tǒng)級(jí)芯片的必讀著作。
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