本書介紹了118種化學(xué)元素的發(fā)現(xiàn)、命名、用途及其構(gòu)成的化合物的功用和危害，同時對化學(xué)史上做出杰出貢獻(xiàn)的巨匠：玻意耳、貝采里烏斯、拉姆塞、邁特納等，也進(jìn)行了詳細(xì)敘述。

化學(xué)實驗室建設(shè)與發(fā)展報告課題于2022年1月召開正式啟動會，一年半以來，編制組專家廣泛調(diào)研，深入總結(jié)，多次交流研討；由于疫情期間多項工作受限，編制組克服重重困難，終成此稿。本書以發(fā)展和建設(shè)為主線，著眼于國際視角，對化學(xué)實驗室的發(fā)展歷程、標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展、工程建設(shè)、關(guān)鍵設(shè)備、安全管理、典型案例、低碳發(fā)展路徑7個方面作了全面闡述

本書是與普通高等教育十二五國家規(guī)劃教材漆安慎、杜嬋英編著的《普通物理學(xué)教程力學(xué)（第四版）》相配套的學(xué)習(xí)輔導(dǎo)書。本書的章節(jié)編排完全與主教材相同，每章開頭都對主教材的重點、難點進(jìn)行了分析，指出讀者學(xué)習(xí)這一章應(yīng)該注意什么，還對主教材中的思考題和習(xí)題"均逐一給出分析和解題步驟。本書中的思考題和習(xí)題都附有原題，既可以作為配合主教

大學(xué)物理實驗是高等學(xué)校理工科專業(yè)的一門基礎(chǔ)課程。本書以培養(yǎng)理工科學(xué)生的實踐能力為目標(biāo)，結(jié)合物理實驗教學(xué)的分層次要求，把物理實驗項目分成基礎(chǔ)性實驗、綜合性與設(shè)計性實驗和虛擬仿真實驗三個部分。本書詳細(xì)介紹了物理實驗中數(shù)據(jù)處理的基本方法，26個實驗項目覆蓋力學(xué)、熱學(xué)、電磁學(xué)、光學(xué)和近代物理等教學(xué)內(nèi)容，包含豐富的實驗思想和實驗

統(tǒng)計學(xué)是一門以應(yīng)用為出發(fā)點的學(xué)科，其應(yīng)用范圍幾乎覆蓋了自然科學(xué)和社會科學(xué)的各個領(lǐng)域。借用著名的統(tǒng)計學(xué)家Rao在其著作《統(tǒng)計與真理--怎樣運用偶然性》中所說的一句話說明統(tǒng)計學(xué)的重要性：“在終極的分析中，一切知識都是歷史；在抽象的意義下，一切科學(xué)都是數(shù)學(xué)；在理性的基礎(chǔ)上，所有的判斷都是統(tǒng)計學(xué)�！备怕收摵蛿�(shù)理統(tǒng)計均是統(tǒng)計學(xué)的

本書1999年第一版，2016年第二版，是國內(nèi)第一本系統(tǒng)介紹概率極限理論經(jīng)典成果和方法的著作，內(nèi)容包括：獨立和經(jīng)典極限定理，概率測度弱收斂，鞅論，Wiener過程的樣本路徑性質(zhì)，Banach空間值隨機變量的概率理論等內(nèi)容。本書既介紹了經(jīng)典概率極限理論的基本內(nèi)容，也簡要地介紹了現(xiàn)代概率極理論的主要結(jié)果，包含獨立和理論、測

概率方法是一種用隨機數(shù)學(xué)研究圖論和其他眾多數(shù)學(xué)分支的方法和理論體系。它已經(jīng)對數(shù)學(xué)基礎(chǔ)理論和工業(yè)生產(chǎn)實際相關(guān)問題的建模和解決產(chǎn)生了深刻影響，而隨機圖的思想也對組合數(shù)學(xué)、理論計算機科學(xué)乃至整個數(shù)學(xué)的發(fā)展產(chǎn)生了重要作用。本書是著名數(shù)學(xué)家JoelSpencer（2021年Steele獎得主）關(guān)于概率方法的系列報告概率方法十講。

大學(xué)基礎(chǔ)物理實驗（第二版）

本書是基于R軟件編寫的面向應(yīng)用的多元統(tǒng)計分析教材，主要內(nèi)容包括多元線性模型、廣義線性模型、聚類分析、判別分析、主成分分析、因子分析、對應(yīng)分析、典型相關(guān)分析和多維標(biāo)度分析。本書采用生動具體的實例來講解多元統(tǒng)計分析方法，方便讀者學(xué)習(xí)；將統(tǒng)計理論與R軟件有機結(jié)合，通過R軟件來實現(xiàn)多元統(tǒng)計的計算和分析，并詳細(xì)解讀R軟件的分析結(jié)

本書為工業(yè)和信息化部“十四五”規(guī)劃教材，主要介紹晶體學(xué)基礎(chǔ)與X射線在材料結(jié)構(gòu)、形貌和成分方面的分析技術(shù)。其中，結(jié)構(gòu)分析技術(shù)包括X射線的物理基礎(chǔ)、衍射原理、物相分析、織構(gòu)分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內(nèi)應(yīng)力分析、點陣常數(shù)的測量與熱處理分析等；形貌分析技術(shù)即三維X射線顯