再版前言
前言
第1單元 原子物理
引言
實(shí)驗(yàn)1-1氫與氘原子光譜
實(shí)驗(yàn)1-2塞曼效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)1-3夫蘭克一赫茲實(shí)驗(yàn)

第2單元 原子核物理
引言
實(shí)驗(yàn)2-1G-M計(jì)數(shù)管和核衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律
實(shí)驗(yàn)2-2NaI(Tl)單晶7閃爍譜儀與7能譜的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)2-3驗(yàn)證快速電子的動(dòng)量與動(dòng)能的相對(duì)論關(guān)系

第3單元 光學(xué)
引言
實(shí)驗(yàn)3-1法拉第效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)3-2橢圓偏振法測(cè)量薄膜厚度和折射率
實(shí)驗(yàn)3-3光拍法測(cè)量光速
實(shí)驗(yàn)3-4用傅里葉變換全息圖作資料存儲(chǔ)
實(shí)驗(yàn)3-5數(shù)字式光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量和透鏡像質(zhì)評(píng)價(jià)
實(shí)驗(yàn)3-6電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)測(cè)量物體離面位移
實(shí)驗(yàn)3-7阿貝成像原理和空間濾波
實(shí)驗(yàn)3-8位置色差的測(cè)量及星點(diǎn)法觀測(cè)光學(xué)系統(tǒng)單色像差
實(shí)驗(yàn)3-9剪切干涉測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)像差
實(shí)驗(yàn)3-10晶體的電光效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)3-11晶體的聲光效應(yīng)和磁光效應(yīng)

第4單元 真空與薄膜技術(shù)
引言
實(shí)驗(yàn)4-1高真空的獲得與測(cè)量
實(shí)驗(yàn)4-2真空鍍膜與膜厚測(cè)量
實(shí)驗(yàn)4-3氣體放電等離子體的研究
實(shí)驗(yàn)4-4電子衍射
實(shí)驗(yàn)4-5表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)4-6光纖光譜儀應(yīng)用綜合實(shí)驗(yàn)

第5單元 磁共振技術(shù)
引言
實(shí)驗(yàn)5-1微波順磁共振
實(shí)驗(yàn)5-2核磁共振
實(shí)驗(yàn)5-3鐵磁共振
實(shí)驗(yàn)5-4核磁共振弛豫時(shí)間Ti和T2的測(cè)量

第6單元 微波技術(shù)
引言
實(shí)驗(yàn)6-1反射式速調(diào)管的工作特性
實(shí)驗(yàn)6-2波導(dǎo)管的工作狀態(tài)
實(shí)驗(yàn)6-3微波的干涉與衍射
實(shí)驗(yàn)6-4微波鐵氧體材料的介電常數(shù)與介電損耗角正切的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)6-5微波衰減量測(cè)量

第7單元 X光技術(shù)
引言
實(shí)驗(yàn)7-1德拜一謝樂(lè)粉末法
實(shí)驗(yàn)7-2勞厄照相法測(cè)定單晶取向
實(shí)驗(yàn)7-3X射線衍射法測(cè)定多晶材料的晶格常數(shù)

第8單元 低溫物理
引言
實(shí)驗(yàn)8-1變溫霍爾效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)8-2小型制冷機(jī)及其制冷技術(shù)
實(shí)驗(yàn)8-3超導(dǎo)材料的電阻一溫度特性測(cè)量
實(shí)驗(yàn)8-4巨磁電阻效應(yīng)的測(cè)量