納米級(jí)集成電路系統(tǒng)電源完整性分析
定 價(jià):125 元
叢書(shū)名:微電子與集成電路先進(jìn)技術(shù)叢書(shū)
- 作者:Masanori Hashimoto & Raj Nair
- 出版時(shí)間:2017/9/5
- ISBN:9787111569879
- 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
- 中圖法分類(lèi):TN710.02
- 頁(yè)碼:314
- 紙張:膠版紙
- 版次:1
- 開(kāi)本:16K
進(jìn)入21世紀(jì)以來(lái),集成電路制造工藝的發(fā)展日新月異,目前已經(jīng)進(jìn)入到了前所未有的納米級(jí)階段。電源完整性作為系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)的重要課題,直接影響到集成電路的可靠性、性能以及功耗。因此,本書(shū)作者以系統(tǒng)級(jí)電源完整性為切入點(diǎn),深入探討了電源完整性的影響、時(shí)鐘產(chǎn)生及分布、輸入/輸出單元中的電源完整性設(shè)計(jì)、電源完整性建模、溫度效應(yīng)以及低功耗電源完整性設(shè)計(jì)等方面的問(wèn)題,并以IBMPOWER7+處理器芯片作為實(shí)例進(jìn)行分析,后針對(duì)新型碳納米管互連元件在電源完整性中的應(yīng)用做了簡(jiǎn)要討論。
原書(shū)前言在20多年前的1990年,在一個(gè)帶狀記錄儀儀器裝配線上我碰到一件觸動(dòng)我的事情。在一批新記錄儀的測(cè)試階段,儀器電子控制板上出現(xiàn)了一些計(jì)數(shù)器不能計(jì)數(shù)的奇怪現(xiàn)象,問(wèn)題的起源是計(jì)數(shù)器的供電電源存在較大并且相對(duì)高頻率的環(huán)路噪聲,在改進(jìn)與上市中面臨的壓力很大,這種噪聲產(chǎn)生的真正原因困擾了生產(chǎn)、設(shè)計(jì)和研發(fā)組。這件事觸動(dòng)了我,其實(shí)相當(dāng)簡(jiǎn)單,這些芯片供電電源網(wǎng)絡(luò)的高速振蕩電流導(dǎo)致了使得儀器功能失效的這些噪聲,而這些噪聲可以通過(guò)在供電電源線路上增加一個(gè)大的電感來(lái)得到減弱。一個(gè)手動(dòng)制作的環(huán)狀鐵質(zhì)電感通過(guò)串聯(lián)加入到電源線路,電源不再如往常一樣發(fā)生振蕩,計(jì)數(shù)器按照設(shè)定進(jìn)行工作,噪聲令人吃驚地被抑制掉了。我很快和制造平臺(tái)設(shè)計(jì)研發(fā)組的總裁一起開(kāi)了設(shè)計(jì)總結(jié)會(huì),作為當(dāng)時(shí)的慣例,盡管我的設(shè)計(jì)方案非常前沿,像我這樣的年輕人還是沒(méi)有機(jī)會(huì)參與這種級(jí)別的總結(jié)會(huì)的。那時(shí)人們生產(chǎn)了大量的鐵心電感產(chǎn)品,并且改變了設(shè)計(jì)方法,這使得錄音機(jī)的生產(chǎn)能以最短的時(shí)間向前推進(jìn)。我從未清楚地去計(jì)算這種改進(jìn)設(shè)計(jì)帶來(lái)的利益是多少,但是在計(jì)數(shù)器芯片數(shù)字電路中供電網(wǎng)絡(luò)采用一種低通濾波器之前,大量的串聯(lián)電感和去耦電容一起被使用,通過(guò)這些事實(shí)可以大概猜出上述設(shè)計(jì)帶來(lái)的利益情況。這種設(shè)計(jì)改變了供電網(wǎng)絡(luò)的共振頻率,消除了采用這種電感器之前存在的一個(gè)共振,減弱了由于計(jì)數(shù)器采用整個(gè)電路系統(tǒng)專用頻率進(jìn)行計(jì)數(shù)而激發(fā)的共振噪聲。
在大約20年以后的2010年,在為一個(gè)高速路由器芯片設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)一個(gè)GHz級(jí)時(shí)鐘分配網(wǎng)絡(luò)的時(shí)候,作為老朋友的自感現(xiàn)象又出現(xiàn)了。在常規(guī)設(shè)計(jì)中會(huì)完全忽略片上互連電感,隨著芯片頻率朝著每秒種十億個(gè)時(shí)鐘周期發(fā)展以及自感相關(guān)影響逐步深入到可以和全局時(shí)鐘分配的互連電感相比擬,我非常有興趣對(duì)這種現(xiàn)象進(jìn)行研究。電感不僅能改善時(shí)鐘的上升和下降時(shí)間,從而降低時(shí)鐘抖動(dòng)(jitter),通過(guò)對(duì)時(shí)鐘分配系統(tǒng)中時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)級(jí)中的過(guò)驅(qū)動(dòng)延時(shí)進(jìn)行仔細(xì)設(shè)計(jì),能減少芯片的時(shí)鐘偏差(skew)。此外,也可能在將4GHz的時(shí)鐘芯片分配到芯片外圍的I/O電路時(shí),降低電阻的趨膚效應(yīng)?傊瑢(duì)這種現(xiàn)象進(jìn)行研究,可以大大地優(yōu)化設(shè)計(jì)。
多年以后,waxingeloquent的在線文章討論了在時(shí)鐘和功率分配網(wǎng)絡(luò)仿真中考慮電感的必要性,我在一篇研究性論文中提出通過(guò)考慮互連電感,能很好地優(yōu)化芯片中使用的金屬。通過(guò)包括電感、關(guān)鍵的互連細(xì)節(jié)信息的實(shí)際的物理布局仿真,能更深入地理解電源完整性優(yōu)化、功耗和芯片,包括去耦電容物理布局。第一本關(guān)于集成電路的電源完整性分析和管理的書(shū)籍在2010年出版,這本書(shū)的出版是在我第一次碰到這種電感現(xiàn)象的20年之后。在這段時(shí)間我竟然耗費(fèi)了很多心血去研究絕熱邏輯這一塊現(xiàn)在被放棄的領(lǐng)域,這個(gè)研究領(lǐng)域充滿草率的假設(shè)和采用簡(jiǎn)化的RC模型,忽略任何電路的實(shí)際細(xì)節(jié),如我認(rèn)識(shí)20多年的電感問(wèn)題。
通過(guò)這些情況,你也許能正確地判斷出我正在對(duì)隨著集成電路特征尺寸逐步縮小情況下的電源完整性問(wèn)題進(jìn)行研究,在片上互連評(píng)估和優(yōu)化研究中將考慮電感的影響。但是,看到一些出版物中繼續(xù)在功率網(wǎng)格的實(shí)際物理仿真中忽略電荷的流動(dòng)慣性,采用一些近似和非物理的仿真方法,這會(huì)使讀者看不到電源完整性退化中的共振或者波的傳輸特性,甚至?xí)䴖Q定了噪聲的峰值幅度。這種近似和有限層面的分析將不可能察覺(jué)到一些瞬時(shí)的物理噪聲現(xiàn)象,如在水力學(xué)和光學(xué)物理頻譜中出現(xiàn)的畸形波(指一種分布非常陡峭,峰值遠(yuǎn)高于周?chē)木钟虿ǎ┚蛯儆谶@種情況。這很好理解,對(duì)于一個(gè)給定的連續(xù)電磁頻譜,在光纖中能看到的畸形波,在電磁系統(tǒng)中也能看到,只是在頻譜幅度小幾個(gè)數(shù)量級(jí)。在關(guān)于集成電路電源完整性的第一本書(shū)中揭示了片上功率網(wǎng)格中關(guān)于入射噪聲波的電容透鏡效應(yīng)仿真,給本書(shū)很大的支持。電感和實(shí)際的物理效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致明顯的延時(shí),也會(huì)引起人們揭示芯片功率網(wǎng)格物理現(xiàn)象的興趣。假設(shè)互連網(wǎng)格沒(méi)有電感就如假設(shè)鐘擺沒(méi)有質(zhì)量,系統(tǒng)不具有勢(shì)能和動(dòng)能,換句話說(shuō),這是不可能的,這是一個(gè)非物理的系統(tǒng)。因此,我出版的這本書(shū)但愿能有助于現(xiàn)代電源完整性分析和驗(yàn)證的物理仿真,在本書(shū)中采用了一些高級(jí)的抽象畫(huà)和基于物理現(xiàn)象的仿真方法。
本書(shū)也是第一次廣泛討論了學(xué)術(shù)界、工業(yè)界和實(shí)驗(yàn)階段的關(guān)于電源完整性的一些成果,從電路和芯片設(shè)計(jì)者的觀點(diǎn)出發(fā)討論說(shuō)明電源完整性退化和它的復(fù)雜性。這本書(shū)也在一些細(xì)節(jié)上討論電源管理和低功耗設(shè)計(jì)對(duì)電源完整性退化的影響。先前的一些書(shū)關(guān)注建模、仿真和分析,對(duì)于設(shè)計(jì)者來(lái)說(shuō),可能更關(guān)注他們碰到的實(shí)際問(wèn)題,尤其希望在設(shè)計(jì)早期就能關(guān)注一些細(xì)節(jié)問(wèn)題,從而能對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和工藝限制的問(wèn)題提前想好對(duì)策。
在特征尺寸達(dá)到納米級(jí),3D集成的年代,集成電路設(shè)計(jì)中面臨非常嚴(yán)酷的現(xiàn)實(shí)問(wèn)題:電源完整性退化將帶來(lái)嚴(yán)格的限制,需要很多的理論和經(jīng)驗(yàn)知識(shí)來(lái)進(jìn)行處理,這個(gè)問(wèn)題將會(huì)由于在垂直方向上集成額外的有源電路而變得更加復(fù)雜。
譯者序
原書(shū)前言
致謝
作者簡(jiǎn)介
本書(shū)作者及分工
第1章 集成電路電源完整性的重要性1
11 晶體管縮放和電源完整性退化過(guò)程1
。豹保豹保薄『愣üβ剩ǎ茫校┖秃愣üβ拭芏龋ǎ茫校模┛s放下電源完整性3
。豹保豹保病〉凸脑O(shè)計(jì)及電源完整性退化4
。豹保豹保场〖呻娐分械碾娫淳W(wǎng)格噪聲5
。豹保豹保础‰娫赐暾酝嘶瘜(duì)I/O電路及信號(hào)完整性的影響8
12 電源完整性惡化的因素9
121 電源完整性退化對(duì)良率的影響9
。豹保勃保病p少電壓擴(kuò)展和增加功率11
123 制造及封裝技術(shù)的增強(qiáng)和成本12
。豹保勃保础≡O(shè)計(jì)和驗(yàn)證成本13
125 不可持續(xù)的能源浪費(fèi)13
。豹保场⒖嘉墨I(xiàn)14
第2章 電源和襯底噪聲對(duì)電路的影響15
21 電源噪聲和襯底噪聲15
。勃保病÷窂揭约把舆t單元和電源噪聲17
221 路徑延遲和電源噪聲之間的關(guān)系18
。勃保勃保病〗M合單元延遲22
。勃保勃保场∮|發(fā)器時(shí)間特性25
。勃保场●詈闲(yīng)電路級(jí)時(shí)序分析28
。勃保唱保薄‰y點(diǎn)28
232 電源噪聲的時(shí)間和空間的相關(guān)性30
233 統(tǒng)計(jì)噪聲模型32
。勃保唱保础(gè)案分析34
。勃保础∧M/射頻(RF)電路的噪聲影響37
。勃保椽保薄‰娫丛肼暎常
242 襯底噪聲39
。勃保怠×(xí)題40
。勃保丁⒖嘉墨I(xiàn)40
第3章 電源完整性中的時(shí)鐘產(chǎn)生和分布42
31 時(shí)鐘延時(shí)、偏移以及抖動(dòng)42
32 用于時(shí)鐘樹(shù)的互連元件46
。唱保勃保薄』ミB元件的寄生器件46
322 電感的定義46
。唱保勃保场‰姼刑崛。矗
。唱保勃保础』ミB元件仿真53
。唱保勃保怠S玫母行曰ミB元件55
。唱保勃保丁⌒盘(hào)傳輸時(shí)間和電感58
。唱保场r(shí)鐘樹(shù)結(jié)構(gòu)及其仿真60
331 時(shí)鐘樹(shù)結(jié)構(gòu)60
。唱保唱保病」I(yè)級(jí)時(shí)鐘分布網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用63
34 電源噪聲引起的時(shí)鐘偏移64
。唱保椽保薄〈须娐分械碾娫丛肼暎叮
。唱保椽保病≡肼暶舾械臅r(shí)鐘分布網(wǎng)絡(luò)仿真65
343 在電壓V和溫度T變化的情況下,時(shí)鐘偏移分析的實(shí)例66
。唱保椽保础∨c時(shí)鐘偏移和電源噪聲有關(guān)的其他工作71
。唱保怠r(shí)鐘產(chǎn)生71
351 對(duì)與電源完整性有關(guān)的鎖相環(huán)和延遲鎖相環(huán)的討論72
。唱保氮保病℃i相環(huán)結(jié)構(gòu)73
353 準(zhǔn)則1:將鎖相環(huán)與噪聲進(jìn)行隔離74
。唱保氮保础(zhǔn)則2:將單端電路以及物理版圖設(shè)計(jì)為差分形式76
。唱保氮保怠(zhǔn)則3:環(huán)路濾波器、偏置產(chǎn)生電路和壓控振蕩器的電源抑制比、
噪聲設(shè)計(jì)78
。唱保丁(shù)據(jù)通信的時(shí)鐘提。福
。唱保丢保薄¢_(kāi)關(guān)式鑒相器80
。唱保丢保病(shù)據(jù)恢復(fù)延遲鎖相環(huán)和相位插值器81
37 總結(jié)81
。唱保浮⒖嘉墨I(xiàn)81
第4章 I/O電路中的信號(hào)及電源完整性設(shè)計(jì)83
。椽保薄∫裕福
。椽保病味耍桑想娐吩O(shè)計(jì)84
目 錄Ⅺ
421 同步開(kāi)關(guān)輸出噪聲84
。椽保勃保病y(cè)量的同步開(kāi)關(guān)輸出噪聲與仿真值的相關(guān)性87
。椽保勃保场∑想娫捶植季W(wǎng)絡(luò)的測(cè)量以及全局電源分布網(wǎng)絡(luò)中的反諧振峰值89
424 信號(hào)完整性和電源完整性的聯(lián)合仿真89
。椽保勃保怠膶S眉呻娐沸酒兴(jiàn)的整體電源分布網(wǎng)絡(luò)阻抗93
。椽保勃保丁☆l域內(nèi)的目標(biāo)阻抗95
。椽保勃保贰〔捎靡蕾囉陬l率目標(biāo)阻抗的信號(hào)衰減估計(jì)98
43 差分I/O設(shè)計(jì)99
。椽保唱保薄〔罘郑桑想娐返男盘(hào)完整性建模99
。椽保唱保病〔罘謧鬏斁、串?dāng)_噪聲和通孔的影響100
。椽保唱保场C(jī)織玻璃纖維的共模轉(zhuǎn)換101
44 三維系統(tǒng)級(jí)封裝中的電源完整性設(shè)計(jì)和評(píng)估105
。椽保椽保薄捒偩結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢(shì)106
。椽保椽保病∪N層疊芯片和三維系統(tǒng)級(jí)封裝配置107
443 完整的電源分布網(wǎng)絡(luò)阻抗及其對(duì)同步開(kāi)關(guān)輸出噪聲的影響113
。椽保怠】偨Y(jié)118
。椽保丁⒖嘉墨I(xiàn)119
第5章 電源完整性退化及建模121
51 背景121
。氮保病‰娫赐暾越#保玻
。氮保勃保薄“寮(jí)電源完整性123
。氮保勃保病》庋b管殼的電源完整性124
。氮保勃保场∑想娫淳W(wǎng)格完整性124
。氮保场‰娫赐暾苑治觯保玻
。氮保础☆l域分析125
。氮保怠r(shí)域分析128
。氮保丁∧繕(biāo)阻抗背景129
。氮保贰(wèn)題公式化130
。氮保浮∽顗那闆r電源分布網(wǎng)絡(luò)輸出電壓噪聲130
。氮保埂o(wú)可實(shí)現(xiàn)性限制的阻抗131
。氮保保啊【哂锌蓪(shí)現(xiàn)性限制的阻抗133
5101 一階阻抗133
。氮保保蔼保病《A阻抗134
。氮保保薄(shí)際電源分布網(wǎng)絡(luò)139
。氮保保豹保薄o(wú)等效串聯(lián)電阻的理想LC結(jié)構(gòu)140