針對極紫外和軟X射線常規(guī)周期多層膜偏振元件帶寬窄的測試?yán)щy的現(xiàn)狀，王洪昌、王占山著的這本《極紫外與軟X射線多層膜偏振元件研究》首次提出了非周期多層膜寬帶偏振光學(xué)元件的方法，克服了常規(guī)周期多層膜帶寬窄、測試時元件需要平移或旋轉(zhuǎn)的難題。本書適合高等院校師生參考使用。