目標(biāo)RCS測(cè)量、處理和評(píng)估貫穿于隱身裝備設(shè)計(jì)、研制、試驗(yàn)和使用維護(hù)的各個(gè)階段�！独走_(dá)目標(biāo)散射特性測(cè)量與處理技術(shù)》在對(duì)RCS測(cè)量與處理技術(shù)領(lǐng)域公開文獻(xiàn)資料進(jìn)行歸納和分析的同時(shí)，重點(diǎn)對(duì)作者所在實(shí)驗(yàn)室近年來(lái)在該領(lǐng)域的基礎(chǔ)理論、實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用性研究成果進(jìn)行了系統(tǒng)的總結(jié)，尤其是對(duì)外現(xiàn)有文獻(xiàn)鮮有涉及而工程實(shí)用價(jià)值又較高的新模型、新方法和新技術(shù)進(jìn)行了討論。全書一半以上的篇幅用于闡述作者所在實(shí)驗(yàn)室的理論和技術(shù)研究成果。
　　全書共分為8章，首先建立目標(biāo)寬帶散射函數(shù)和散射分布函數(shù)的概念，然后圍繞可探測(cè)目標(biāo)的RCS測(cè)試場(chǎng)和寬帶成像診斷測(cè)量技術(shù)問題進(jìn)行討論，主要包括：RCS測(cè)試場(chǎng)和寬帶相參測(cè)量雷達(dá)、低散射目標(biāo)支架設(shè)計(jì)方法、新型RCS定標(biāo)體與定標(biāo)處理技術(shù)、背景輔助測(cè)量與提取技術(shù)、目標(biāo)高分辨率診斷成像技術(shù)、極化校準(zhǔn)測(cè)量與處理技術(shù)，以及RCS數(shù)據(jù)的處理、評(píng)估與報(bào)告等。
　　《雷達(dá)目標(biāo)散射特性測(cè)量與處理技術(shù)》可供從事低可探測(cè)目標(biāo)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)、目標(biāo)與環(huán)境特性、雷達(dá)目標(biāo)散射現(xiàn)象學(xué)、武器系統(tǒng)仿真等技術(shù)領(lǐng)域的廣大研究人員、工程技術(shù)人員和部隊(duì)官兵參考，也可作為相關(guān)*校教師和研究生的教學(xué)與研究參考書。