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現(xiàn)代集成電路和電子系統(tǒng)的地球環(huán)境輻射效應(yīng)

現(xiàn)代集成電路和電子系統(tǒng)的地球環(huán)境輻射效應(yīng)

定  價(jià):79 元

叢書名:國(guó)防電子信息技術(shù)叢書

        

  • 作者:(日)Eishi H. Ibe(伊部英治)
  • 出版時(shí)間:2019/1/1
  • ISBN:9787121351150
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:
  • 版次:
  • 開本:
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本書主要介紹廣泛存在的各種輻射及其對(duì)電子設(shè)備和系統(tǒng)的影響,涵蓋了造成ULSI器件出錯(cuò)和失效的多種輻射,包括電子、α射線、介子、γ射線、中子和重離子,從物理角度建模,以確定使用何種數(shù)學(xué)方法來(lái)分析輻射效應(yīng)。本書對(duì)多種降低軟錯(cuò)誤影響的預(yù)測(cè)、檢測(cè)、表征和緩解技術(shù)進(jìn)行了分析和討論。作者還展示了如何對(duì)在凝聚態(tài)物質(zhì)中復(fù)雜的輻射效應(yīng)進(jìn)行建模,以量化和減少其影響,并解釋了在環(huán)境輻射中包括服務(wù)器和路由器在內(nèi)的電子系統(tǒng)是如何失效的。
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