OrCAD Pspice是CAD公司開發(fā)的電子電路設(shè)計自動化系列軟件中的一員，OrCADPSpice9系列軟件在電路性能分析，優(yōu)化設(shè)計，以及特性數(shù)據(jù)庫等諸多方面比以前有了很大的提高。它以方便快捷的輸入方式、強大的分析功能等特點獲得電子行業(yè)的、一致好評。《Pspice電路設(shè)計與分析》從PSPice的基本開發(fā)環(huán)境和基本語法開始，根據(jù)電路設(shè)計中所需要解決的各種問題，介紹相關(guān)語句的格式，以及各種組件的使用。在用戶熟悉了PSpice的基本用法之后，《Pspice電路設(shè)計與分析》開始結(jié)合OrCAD PSpice9.2并以具體的實例來介紹如何使用軟件來完成各種電路的輸入和不同分析方法的設(shè)置等問題�！禤spice電路設(shè)計與分析》中的內(nèi)容安排由易到難，對初學(xué)者難以理解的概念和容易發(fā)生的問題，給予了盡可能詳細的說明，可以同時起到教科書和用戶手冊的作用。
內(nèi)容豐富，重點突出，應(yīng)用性強，語言簡練，內(nèi)容詳實，通俗易懂，實例豐富，高效實用，立足應(yīng)用。
隨著集成電路的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的設(shè)計方法已遠遠不能滿足需求。計算機輔助設(shè)計（Com.puter Aided Design，CAD）技術(shù)已經(jīng)在電子設(shè)計的領(lǐng)域起著非常重要的作用。CAD技術(shù)已經(jīng)滲透到了電路圖生成、邏輯模擬、電路分析、優(yōu)化設(shè)計、最壞分析、印刷板設(shè)計等各個領(lǐng)域。現(xiàn)在CAD技術(shù)已逐漸成為提高電子線路設(shè)計的速度和質(zhì)量的不可缺少的重要工具。離開CAD技術(shù)，很難圓滿地完成一個電路和系統(tǒng)的設(shè)計任務(wù)。
OrCAD PSpice是電子設(shè)計中用來分析電路的工具之一，它不僅可以計算模擬電路的直流工作點、增益、頻率特性等，還可以仿真數(shù)字電路的邏輯功能，更為突出的是它還擁有傅里葉分析、蒙特卡羅分析、最壞情況分析等特殊功能，使電路設(shè)計完全可以在計算機上完成。
本書的目的是介紹OrCAD PSpice的使用。幫助讀者能夠高效地運用該軟件進行電路設(shè)計。對一個軟件的使用的介紹通常是以它的不同功能作為不同部分來分別介紹的，但實際上最好的學(xué)習(xí)方法是在運用中學(xué)習(xí)，所以我們采用了基于實例的方法。也就是說，以一個個不同的實際電路為例，運用OrCAD PSpice來分析電路，同時介紹各種新概念和新的方法。實例是按照由簡到繁的順序安排的，讀者在閱讀的過程中，可以一邊對照書學(xué)習(xí)，一邊操作，從而逐漸增加經(jīng)驗。后面的學(xué)習(xí)可能會用到前面的知識，如果讀者沒有完全掌握，還可以翻看前面的內(nèi)容，有利于知識的鞏固。
OrCAD PSpice是由在EDA領(lǐng)域最負盛名的公司OrCAD所開發(fā)的通用電路模擬仿真軟件，從OrCAD.PSpice9開始，可以直接使用OrCAD Capture CIS進行原理圖的繪制，并進行后續(xù)的相關(guān)分析，使得該軟件的使用更加方便，功能更強大。
第1章 OrCADP Spice簡介
1.1 電路CAD的發(fā)展
1.2 PSpice軟件簡介
第2章 PSpice的開發(fā)環(huán)境
2.1 CaptureCISEdition
2.2 Schematics窗口
2.2.1 打開Schematics繪圖窗口
2.2.2 繪圖窗口的工具欄
2.2.3 繪圖窗口的主菜單
2.3 PSpiceA／D窗口
2.3.1 打開PSpiceA／D
2.3.2 PSpiceA／D窗口常用命令項
2.4 Probe程序項
2.5 激勵源編輯器StimulusEditor
2.5.1 打開StimulusEditor窗口
2.5.2 StimulusEditor工具欄
2.5.3 StimulusEditor菜單欄
2.6 Optimizer優(yōu)化窗口
2.6.1 打開Optimizer窗口
2.6.2 Optimizer窗口菜單
第3章 PSpice的電路描述語句
3.1 輸入文件的一般規(guī)定
3.1.1 輸入描述語句的構(gòu)成和相關(guān)規(guī)定
3.1.2 標題語句、注釋語句和結(jié)束語句
3.2 無源元件描述語句
3.2.1 電阻R
3.2.2 電容和電感
3.2.3 互感
3.2.4 無損傳輸線
3.2.5 電壓控制開關(guān)
3.2.6 電流控制開關(guān)
3.3 有源元件描述語句
3.3.1 二極管
3.3.2 雙極型晶體管
3.3.3 MOS場效應(yīng)晶體管
3.3.4 結(jié)型場效應(yīng)晶體管
3.3.5 砷化鉀場效應(yīng)晶體管
3.3.6 數(shù)字電路器件
3.4 電源描述語句
3.4.1 獨立電壓源和獨立電流源
3.4.2 線性受控源
3.5 分析和控制語句
3.5.1 分析語句
3.5.2 控制語句
3.6 子電路以及庫的調(diào)用
3.6.1 子電路描述語句
3.6.2.元器件庫的調(diào)用
3.7 使用描述語言輸入的方法分析直流電路
3.8 使用描述語言輸入的方法分析交流電路
第4章 CaptureCIS初步了解
4.1 打開新的電路圖
4.2 電路繪制過程
4.2.1 繪圖頁規(guī)格的調(diào)整
4.2.2 電路元件的放置
4.2.3 電源元件的放置
4.2.4 改變元件序號與元件值
4.2.5 元件間連線
4.2.6 接點的放置
4.2.7 存檔
4.3 電路特性分析類型和分析參數(shù)設(shè)置
4.4 運行PSpiceA／D程序
4.5 CaptureCIS使用實例
4.1 5.1 繪制電路圖
4.5.2 設(shè)置參數(shù)
4.5.3 保存
4.5.4 啟動PSpice仿真
4.5.5 直流分析
4.5.6 參數(shù)分析
第5章 Probe模塊的運用
5.1 Probe的功能和調(diào)用方式
5.1.1 Probe的功能
5.1.2 Probe調(diào)用和運行模式的設(shè)置
5.1.3 Probe模塊的窗口界面
5.1.4 Probe模塊的主命令系統(tǒng)
5.2 信號波形的顯示
5.2.1 Probe窗口中顯示波形
5.2.2 信號波形的編輯修改
5.2.3 多批模擬分析結(jié)果波形的顯示
5.3 顯示波形的分析處理
5.3.1 改變坐標值
5.3.2 增加一個y軸
5.3.3 坐標網(wǎng)格的設(shè)置
5.3.4 光標Cursor的應(yīng)用
5.3.5 Label標注符的使用
5.4 Probe的多窗口顯示
5.4.1 波形顯示區(qū)的控制
5.4.2 波形顯示窗口的控制
5.5 Probe的文本工作模式
5.5.1 信號波形的數(shù)據(jù)顯示
5.5.2 數(shù)據(jù)的邏輯處理
第6章 模擬電路分析
6.1 輸入級、輸出級
6.1.1 用CaptureCISEdition繪制電路圖
6.1.2 生成網(wǎng)單輸入文件
6.1.3 直流工作點分析以及直流掃描
6.1.4 瞬態(tài)分析
6.1.5 交流小信號分析
6.1.6 乙類工作狀態(tài)互補輸出級
6.1.7 傅里葉分析
6.2 電流源
6.2.1 鏡像電流源基本分析
6.2.2 鏡像電流源偏置電阻的直流掃描分析
6.2.3 鏡像電流源的輸出電阻與溫度特性
6.3 差動放大器
6.3.1 繪制電路圖
6.3.2 設(shè)置仿真參數(shù)
6.3.3 存檔并進行仿真
6.3.4 巢式分析
6.3.5 交流分析與噪聲分析
6.3.6 蒙特卡羅分析（MonteCarlo）
6.4 帶通濾波器
6.4.1 繪制電路圖
6.4.2 設(shè)置元件參數(shù)
6.4.3 設(shè)置分析參數(shù)
6.4.4 執(zhí)行仿真
6.4.5 低通濾波器進行噪聲分析
第7章 數(shù)字電路分析
7.1 數(shù)字電路模擬的基本知識
7.1.1 數(shù)字電路模擬涉及的概念
7.1.2 數(shù)字電路模擬的基本步驟
7.2 數(shù)字電路中的常用器件
7.3 數(shù)字電路模擬中的激勵信號源
7.3.1 DIGCLOCK波形設(shè)置
7.3.2 STIMn激勵信號波形的設(shè)置
7.3.3 DIGSTIMn信號源的設(shè)置
7.3.4 FILESTIMn類信號源波形設(shè)置
7.4 數(shù)字電路實例分析
7.4.1 三八譯碼器
7.4.2 半加器的實現(xiàn)
7.5 數(shù)／�；旌想娐纺M
7.5.1 數(shù)／�；旌想娐返慕涌诘刃щ娐�
7.5.2 數(shù)／模混合電路實例
7.6 數(shù)字電路最壞情況分析
7.6.1 基本概念
7.6.2 延遲時序模糊導(dǎo)致輸出不確定
7.6.3 脈寬變窄
第8章 使用Optimizer進行電路的優(yōu)化設(shè)計
8.1 概述
8.1.1 基本概念
8.1.2 基本條件
8.2 二極管偏置電流的優(yōu)化
8.2.1 繪制電路圖
8.2.2 設(shè)置優(yōu)化參數(shù)
8.2.3 優(yōu)化結(jié)果
8.2.4 利用網(wǎng)單文件進行優(yōu)化
8.3 共射極放大電路的優(yōu)化
8.3.1 繪制電路圖
8.3.2 IC（Q1）優(yōu)化
8.3.3 增加優(yōu)化目標
8.3.4 電路圖自動升級
8.4 無源輸出極的優(yōu)化
8.4.1 多待調(diào)整參數(shù)設(shè)置
8.4.2 設(shè)置優(yōu)化參數(shù)
8.4.3 優(yōu)化結(jié)果
8.5 優(yōu)化COMS放大器
8.5.1 COMS放大器
8.5.2 優(yōu)化參數(shù)設(shè)置
8.5.3 可選項設(shè)置
8.5.4 優(yōu)化結(jié)果
8.5.5 優(yōu)化過程中的波形顯示
8.6 有源濾波器優(yōu)化
隨著計算機技術(shù)和自動化技術(shù)的飛速發(fā)展，以電子計算機輔助設(shè)計技術(shù)（Computer AidedDesign，CAD）為基礎(chǔ)的電子設(shè)計自動化技術(shù)（Electronic Design Automation，EDA）已經(jīng)成為了電子電路設(shè)計必不可少的工具。計算機的發(fā)展促進了電路設(shè)計的自動化過程，使電子線路設(shè)計越來越便利，同時，電子線路的發(fā)展也促進了計算機的更新?lián)Q代，并且也向計算機提出了更高的軟件要求。在過去，通常用兩種方法進行電路設(shè)計：
一種方法是在數(shù)學(xué)上利用公式計算，一般用兩個基爾霍夫定律以及元件的特性方程列方程進行計算求解。數(shù)學(xué)方法求解電路問題，看似非常精確，對于簡單的電路分析確實可以得到很不錯的效果，也利于形成理論，但當(dāng)電路結(jié)果復(fù)雜、元件多時，數(shù)學(xué)分析的方法就會暴露出很多問題：
（1）電路元件的增多，使得電路方程的數(shù)目隨之增加，求解越發(fā)困難。
（2）運用數(shù)學(xué)方法時，隨著電路元件的增多，方程數(shù)目增加了，方程的解的精度也就自然而然地降低了。
（3）如果發(fā)現(xiàn)原來的設(shè)計中出現(xiàn)了問題，就必須修改元件的參數(shù)甚至要修改電路形式，數(shù)學(xué)方法將會有很大改動，甚至無法得到新的結(jié)果。
（4）數(shù)學(xué)方法無法進行元件可靠性等實驗。
（5）容差分析以及優(yōu)化設(shè)計很困難。
另一種方法是物理方法。按照設(shè)計出來的電路圖將元件搭成電路板，并用測試工具對電路的各項指標進行測試。對于簡單的電路設(shè)計，手工搭建電路能夠很直觀地分析電路特性，提高試驗者的動手能力，同時也能得到很不錯的效果。但當(dāng)元件數(shù)目大量增加時，搭建電路就會變得非常困難，不但需要大量的實際元件，而且會出現(xiàn)以下問題：
（1）電路元件的增多，使得在利用元件搭建電路板時出錯率很高，所以調(diào)試效率降低。
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