《光電變換與檢測(cè)技術(shù)》分為兩大部分。第一部分(第1章—第5章)為光電信息變換內(nèi)容,介紹有關(guān)光電器件的基本知識(shí),各種光電探測(cè)器件、成像器件和熱電探測(cè)器件的工作原理與特征,偏置電路及典型應(yīng)用;介紹各種光電信息變換的方式、類型及其原理。第二部分(第6章—第12章)結(jié)合科研和生產(chǎn)的實(shí)際,介紹了輻射信號(hào)檢測(cè)、零件尺寸檢測(cè)、位移檢測(cè)、光譜檢測(cè)、光子計(jì)數(shù)技術(shù)、光纖傳感技術(shù)及光電新技術(shù)等。
《光電變換與檢測(cè)技術(shù)》作為應(yīng)用型教材在內(nèi)容上反映了科研和生產(chǎn)的新技術(shù),理論分析簡(jiǎn)潔,概念清晰,理論與實(shí)際密切相結(jié)合,有宜于應(yīng)用型人才的培養(yǎng)。
本教材適用專業(yè)較廣,可作為光信息科學(xué)與技術(shù)、電子科學(xué)與技術(shù)、光電子技術(shù)、光電信息工程、測(cè)控技術(shù)與儀器、科學(xué)電子與技術(shù)、電子信息與電氣類專業(yè)教學(xué)用書(shū),也可作為光電科技領(lǐng)域技術(shù)人員的參考書(shū)。
《光電變換與檢測(cè)技術(shù)》共分12章,主要內(nèi)容包括緒論、光電信息變換的基本知識(shí)、光電探測(cè)器件、熱電探測(cè)器件、光電成像器件、光電信息變換、輻射信號(hào)檢測(cè)、零件尺寸檢測(cè)、位移檢測(cè)、光譜檢測(cè)、光子計(jì)數(shù)技術(shù)、光纖傳感技術(shù)、光電信息技術(shù)應(yīng)用。 《光電變換與檢測(cè)技術(shù)》內(nèi)容充實(shí),涉及面廣,可適合不同類型專業(yè)的教學(xué)用書(shū)。不同專業(yè)在選用本書(shū)時(shí),可根據(jù)本專業(yè)的特點(diǎn)和面向,可以對(duì)本書(shū)的章節(jié)適當(dāng)?shù)剡x用。
緒論
第1章 光電信息變換的基本知識(shí)
1.1 光的兩重性
1.1.1 電磁波譜和光譜
1.1.2 光的粒子性(或量子性)
1.2 入射光的基本度量單位
1.2.1 通量單位
1.2.2 照度單位
1.2.3 輻射度參數(shù)與光度參數(shù)關(guān)系
1.3 常用光源
1.3.1 半導(dǎo)體發(fā)光二極管
1.3.2 半導(dǎo)體激光器
1.4 光調(diào)制
1.4.1 調(diào)制光的優(yōu)點(diǎn)
1.4.2 光調(diào)制的方法
1.5 光電效應(yīng)
1.5.1 光電導(dǎo)效應(yīng)
1.5.2 光生伏特效應(yīng)
1.5.3 外光電效應(yīng)
1.6 光電器件的基本特性
1.6.1 靈敏度
1.6.2 光譜響應(yīng)
1.6.3 頻率響應(yīng)
思考題與習(xí)題
第2章 光電探測(cè)器件
2.1 光敏電阻
2.1.1 光敏電阻的結(jié)構(gòu)及種類
2.1.2 光敏電阻的基本工作原理
2.1.3 光敏電阻的偏置電路
2.2 光生伏特器件
2.2.1 光生伏特器件的基本原理
2.2.2 半導(dǎo)體光電管
2.2.3 光電管的基本電路
2.2.4 光電池
2.2.5 光生伏特器件組合件
2.2.6 光電位置敏感器件(PSD)
2.3 真空光電倍增管
2.3.1 真空光電倍增管的基本原理
2.3.2 真空光電倍增管的輸出特性
2.3.3 光電倍增管的供電電路
2.4 光電耦合器
2.4.1 光電耦合器的基本原理
2.4.2 光電耦合器的基本電路
2.4.3 光電耦合器的應(yīng)用
思考題與習(xí)題
第3章 熱電探測(cè)器件
3.1 熱電探測(cè)器件的基本原理
3.2 熱敏電阻
3.3 熱電偶與熱電堆探測(cè)器
3.4 熱釋電器件
思考題與習(xí)題
第4章 光電成像器件
4.1 光電成像器件的類型
4.1.1 直接顯示型光電成像器件
4.1.2 間接顯示型光電成像器件
4.2 光電成像器件的基本特性
4.2.1 光譜響應(yīng)
4.2.2 轉(zhuǎn)換特性
4.2.3 分辨力
4.3 變像管和像增強(qiáng)器
4.3.1 變像管和像增強(qiáng)器的工作原理
4.3.2 變像管
4.3.3 像增強(qiáng)器
4.3.4 像管的特性
4.3.5 高壓電源
4.4 攝像管
4.4.1 攝像管的一般原理
4.4.2 視像管
4.4.3 視像管靶
4.4.4 光電發(fā)射式攝像管
4.4.5 攝像管的基本電路
4.5 電荷耦合攝像器件
4.5.1 CCD的MOS結(jié)構(gòu)及工作原理
4.5.2 電極結(jié)構(gòu)及工作原理
4.5.3 電荷傳輸
4.5.4 電荷注入與電荷檢取
4.5.5 CCD攝像器件
思考題與習(xí)題
第5章 光電信息變換
5.1 光電信息變換的類型
5.1.1 光電傳感器的基本形式
5.1.2 光電信息變換的工作原理
5.1.3 光電器件選擇
5.2 模擬光電信息變換
5.2.1 簡(jiǎn)單式變換
5.2.2 溫度補(bǔ)償
5.2.3 差接式變換
5.2.4 光外差式變換
5.3 模-數(shù)光電信息變換
5.3.1 激光掃描直徑信息變換
5.3.2 光電轉(zhuǎn)速信息變換
5.3.3 激光干涉信息變換
5.3.4 光柵莫爾條紋信息變換
5.3.5 編碼器角度代碼信息變換
思考題與習(xí)題
第6章 輻射信號(hào)檢測(cè)
6.1 緩變信號(hào)探測(cè)
6.1.1 光學(xué)結(jié)構(gòu)
6.1.2 調(diào)制盤(pán)
6.1.3 調(diào)制盤(pán)對(duì)背景信號(hào)的空間濾波
6.2 脈沖信號(hào)探測(cè)
6.2.1 探測(cè)閾值及信噪比
6.2.2 濾波器帶寬的選擇
6.3 輻射溫度檢測(cè)
6.4 脈沖法測(cè)距
6.5 相位法測(cè)距
6.5.1 相位法測(cè)距的基本原理
6.5.2 測(cè)尺頻率的選擇
6.5.3 差頻測(cè)相
思考題與習(xí)題
第7章 零件尺寸檢測(cè)
7.1 模擬變換檢測(cè)法
7.1.1 光通量變換法
7.1.2 光電投影法
7.2 模-數(shù)變換檢測(cè)法
7.2.1 光學(xué)掃描法
7.2.2 電掃描法
思考題與習(xí)題
第8章 位移檢測(cè)
8.1 激光干涉位移檢測(cè)
8.1.1 激光干涉儀原理
8.1.2 光電接收和數(shù)字顯示電路
8.2 光柵位移檢測(cè)
8.2.1 光柵位移傳感器
8.2.2 光柵線位移檢測(cè)
8.2.3 莫爾條紋信號(hào)的電子細(xì)分
8.2.4 光柵角位移檢測(cè)
思考題與習(xí)題
第9章 光譜檢測(cè)
9.1 概述
9.1.1 光電光譜檢測(cè)框圖
9.1.2 光譜信息變換
9.1.3 光譜檢測(cè)器
9.1.4 微機(jī)系統(tǒng)
9.2 光譜信息變換
9.2.1 光譜形成器
9.2.2 衍射光柵
9.3 光譜信號(hào)檢測(cè)典型應(yīng)用
9.3.1 紅外分光光度計(jì)
9.3.2 光多通道分析儀
思考題與習(xí)題
第10章 光子計(jì)數(shù)技術(shù)
10.1 光子計(jì)數(shù)器的原理
10.2 光子計(jì)數(shù)器中的光電倍增管
10.3 放大器與鑒別器
10.3.1 前置放大器
10.3.2 脈沖幅度鑒別器
10.4 光子計(jì)數(shù)器的檢測(cè)法
思考題與習(xí)題
第11章 光纖傳感技術(shù)
11.1 光導(dǎo)纖維的基本知識(shí)
11.1.1 光纖傳光原理
11.1.2 光纖的分類
11.1.3 光纖的基本特性
11.2 光纖傳感器的基本原理和類型
11.3 非功能型光纖傳感器
11.4 功能型光纖傳感器
思考題與習(xí)題
第12章 光電信息技術(shù)應(yīng)用
12.1 光存儲(chǔ)技術(shù)
12.2 光盤(pán)存儲(chǔ)
12.3 光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器
12.4 藍(lán)光刻錄
12.5 光電鼠標(biāo)
12.6 掃描儀
12.6.1 掃描儀的功能
12.6.2 掃描儀的構(gòu)成和工作原理
12.7 激光打印機(jī)
12.7.1 激光打印機(jī)的特點(diǎn)
12.7.2 激光打印機(jī)的組成
12.7.3 激光打印機(jī)原理
12.7.4 激光打印機(jī)工作過(guò)程
12.7.5 激光打印機(jī)中的關(guān)鍵技術(shù)
12.8 復(fù)印機(jī)
12.9 條形碼
12.10 激光計(jì)算機(jī)簡(jiǎn)介
12.11 光纖照明
12.12 2008年北京奧運(yùn)會(huì)光電技術(shù)應(yīng)用簡(jiǎn)介
思考題與習(xí)題
附錄Ⅰ 項(xiàng)目制作基礎(chǔ)思考題
附錄Ⅱ 創(chuàng)新設(shè)計(jì)制作參考項(xiàng)目
附錄Ⅲ 光電器件特性參數(shù)表
附錄Ⅳ 成像器件參數(shù)表
參考文獻(xiàn)