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電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法

電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法

定  價(jià):58 元

        

  • 作者:張魁 ... [等] 主編
  • 出版時(shí)間:2022/7/1
  • ISBN:9787563566716
  • 出 版 社:北京郵電大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN6 
  • 頁(yè)碼:154
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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本書系統(tǒng)地介紹了從原理、操作到應(yīng)用等聲學(xué)掃描檢測(cè)技術(shù)所涉及的各方面內(nèi)容, 主要內(nèi)容包括試驗(yàn)原理、操作指南、應(yīng)用案例、試驗(yàn)技巧和塑封器件五篇。第一篇試驗(yàn)原理介紹了超聲波的檢測(cè)原理和聲學(xué)掃描顯微鏡的工作原理, 是聲掃試驗(yàn)的重要基礎(chǔ)。第二篇操作指南介紹了與試驗(yàn)操作相關(guān)的流程、設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)等, 主要用于指導(dǎo)聲掃試驗(yàn)人員實(shí)踐操作。第三篇應(yīng)用案例介紹了常見半導(dǎo)體器件的檢測(cè)關(guān)鍵因素和聲掃試驗(yàn)的典型應(yīng)用案例, 熟悉這些案例對(duì)于快速提升試驗(yàn)人員的操作經(jīng)驗(yàn)具有較大幫助。第四篇試驗(yàn)技巧介紹了聲掃試驗(yàn)過程中涉及的方法技巧、誤判分析和異常分析等, 掌握這些試驗(yàn)技巧能夠顯著提升試驗(yàn)人員的技術(shù)水平。第五篇塑封器件系統(tǒng)地介紹了塑封器件的結(jié)構(gòu)、工藝和失效情況分析, 是聲掃試驗(yàn)的延伸補(bǔ)充。本書定位于電子元器件聲學(xué)掃描方法的從入門到精通, 試驗(yàn)原理部分和操作指南部分主要是入門內(nèi)容, 可用于新員工培訓(xùn)。應(yīng)用案例部分和試驗(yàn)技巧部分是進(jìn)階提升內(nèi)容, 可用于已掌握聲掃試驗(yàn)技術(shù)的人員進(jìn)一步提高, 快速提升其自身水平和間接經(jīng)驗(yàn)。塑封器件部分可用于開闊視野, 提升塑封器件聲掃試驗(yàn)的認(rèn)知水平。
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