資深芯片驗證專家劉斌（路桑）圍繞目前芯片功能驗證的主流方法—動態(tài)仿真面臨的日常問題展開分析和討論。根據(jù)驗證工程師在仿真工作中容易遇到的技術(shù)疑難點，本書內(nèi)容在邏輯上分為 SystemVerilog疑難點、UVM 疑難點和 Testbench 疑難點三部分。作者精心收集了上百個問題，給出翔實的參考用例，指導(dǎo)讀者解決實際問題。在這本實踐性很強的書中，作者期望能夠?qū)⒆髡吲c諸多工程師基于常見問題的交流進行總結(jié)，以易讀易用的組織結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)給讀者，目的是幫助芯片驗證工程師更有效地處理技術(shù)疑難點，加快芯片驗證的調(diào)試過程。