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顆粒粒度測量技術(shù)及應(yīng)用
本書分為四部分,第一部分介紹了顆粒粒度的基本知識;第二部分介紹了光散射理論、超聲散射理論和圖像處理理論等;第三部分介紹了顆粒粒度測量儀器和應(yīng)用,并引入其它顆粒測量技術(shù)作為補充;第四部分為作者多年來收集的物質(zhì)的折射率和其它物性參數(shù),以及國際和國內(nèi)有關(guān)顆粒測量的標(biāo)準(zhǔn)等資料。
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