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公差配合與技術(shù)測(cè)量 讀者對(duì)象:高職
本書結(jié)合新時(shí)代高職高專院校教育要求和特點(diǎn),以“必備、夠用”為原則組織內(nèi)容,力求語(yǔ)言簡(jiǎn)練、條理清晰、深入淺出,以任務(wù)引入與思考的方式引導(dǎo)相關(guān)的內(nèi)容學(xué)習(xí),強(qiáng)化理論性與應(yīng)用性的結(jié)合。本書共分八個(gè)項(xiàng)目,分別為緒論、測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)、極限與配合基礎(chǔ)、形狀和位置公差、光滑極限量規(guī)設(shè)計(jì)、表面粗糙度及檢測(cè)、螺紋結(jié)合的公差與檢測(cè)、圓錐的公差配合及測(cè)量。
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