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機(jī)載典型電子元器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為與機(jī)理研究

機(jī)載典型電子元器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為與機(jī)理研究

定  價(jià):59 元

        

  • 作者:郁大照王希彬王琳編
  • 出版時(shí)間:2023/11/1
  • ISBN:9787512439962
  • 出 版 社:北京航空航天大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:V242 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書對(duì)機(jī)載典型電子元 器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為 與機(jī)理進(jìn)行了較為系統(tǒng)的研 究,主要內(nèi)容包括概述、機(jī) 載典型電子元器件故障分析 、機(jī)載典型電子元器件腐蝕 加速試驗(yàn)方法、機(jī)載典型電 子元器件熱帶海洋環(huán)境對(duì)比 試驗(yàn)、機(jī)載電子元器件腐蝕 仿真分析、外部防護(hù)產(chǎn)品的 防腐效應(yīng)試驗(yàn)與效果分析及 機(jī)載電子元器件腐蝕防護(hù)策 略等內(nèi)容。
本書結(jié)構(gòu)合理,注重理 論聯(lián)系實(shí)際,可以作為航空 航天相關(guān)專業(yè)研究生的輔助 教材,也可供從事相關(guān)工作 的工程技術(shù)人員參考。
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