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機載典型電子元器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為與機理研究

機載典型電子元器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為與機理研究

定  價:59 元

        

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  • 作者:郁大照王希彬王琳編
  • 出版時間:2023/11/1
  • ISBN:9787512439962
  • 出 版 社:北京航空航天大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:V242 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書對機載典型電子元 器件熱帶海洋環(huán)境腐蝕行為 與機理進(jìn)行了較為系統(tǒng)的研 究,主要內(nèi)容包括概述、機 載典型電子元器件故障分析 、機載典型電子元器件腐蝕 加速試驗方法、機載典型電 子元器件熱帶海洋環(huán)境對比 試驗、機載電子元器件腐蝕 仿真分析、外部防護(hù)產(chǎn)品的 防腐效應(yīng)試驗與效果分析及 機載電子元器件腐蝕防護(hù)策 略等內(nèi)容。
本書結(jié)構(gòu)合理,注重理 論聯(lián)系實際,可以作為航空 航天相關(guān)專業(yè)研究生的輔助 教材,也可供從事相關(guān)工作 的工程技術(shù)人員參考。
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