本書系統(tǒng)性地介紹輻射對電子學(xué)系統(tǒng)的損傷機制、研究方法和加固技術(shù)。第1-3章介紹輻射環(huán)境、輻射與物質(zhì)的相互作用，以及電子元器件的輻射效應(yīng)；第4-6章介紹多物理響應(yīng)與多物理場作用、輻射效應(yīng)的試驗與測試，以及輻射環(huán)境與輻射效應(yīng)的計算與仿真；第7章和第8章介紹電子學(xué)系統(tǒng)抗輻射加固技術(shù)與抗輻射性能評估。附錄提供了常用的輻射效應(yīng)數(shù)據(jù)以便查詢。