本書結(jié)合實(shí)際案例及基本理論，具體闡述了知識(shí)產(chǎn)權(quán)概述、專利的一般知識(shí)、專利獲取程序、商標(biāo)的一般知識(shí)、獲取商標(biāo)權(quán)的程序、與知識(shí)產(chǎn)權(quán)有關(guān)的反不正當(dāng)競(jìng)爭(zhēng)、著作權(quán)的一般知識(shí)與保護(hù)、計(jì)算機(jī)軟件著作權(quán)的保護(hù)與登記、集成電路布圖設(shè)計(jì)保護(hù)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)訴訟等內(nèi)容。本書可作為MBA、工程碩士、MPA、EMBA、MPAcc教材和工科學(xué)生、工程技術(shù)人員的閱讀資料。