本書介紹了Bayes小子樣方法的理論及其在電子系統(tǒng)試驗中的應(yīng)用，主要包括：概率論和數(shù)理統(tǒng)計的基本理論及與電子系統(tǒng)試驗密切相關(guān)的概率分布及其特性；電子系統(tǒng)試驗中現(xiàn)用的數(shù)據(jù)處理方法及其存在的弊端；Bayes理論的基本內(nèi)容及其在國防科技領(lǐng)域的典型應(yīng)用；Bayes統(tǒng)計推斷的理論，正態(tài)分布總體和二項分布總體未知參數(shù)的Bayes估計和假設(shè)檢驗及其相對于傳統(tǒng)方法的先進(jìn)性；SPOT(序貫驗后加權(quán)檢驗)方法的基本理論，電子系統(tǒng)試驗中的正態(tài)總體和二項總體未知參數(shù)的SPOT方法；以雷達(dá)探測距離和發(fā)現(xiàn)概率為例，詳述歷史數(shù)據(jù)的獲取及整理、驗前分布函數(shù)的獲得、試驗結(jié)果的Bayes估計和檢驗，探測距離和發(fā)現(xiàn)概率指標(biāo)的SPOT檢驗等。 本書可作為從事電子系統(tǒng)或電子對抗系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理、試驗評估、試驗設(shè)計以及統(tǒng)計決策領(lǐng)域科技人員的參考書，也可供高等院校本科生和研究生進(jìn)行相關(guān)課題研究或課程學(xué)習(xí)時參考。