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X射線粉末衍射原理與實(shí)踐

X射線粉末衍射原理與實(shí)踐

定  價(jià):69 元

        

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  • 作者:施洪龍著
  • 出版時(shí)間:2024/1/1
  • ISBN:9787121470882
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O434.1 
  • 頁(yè)碼:295頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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讀者對(duì)象:本書(shū)可作為材料、物理、化學(xué)等相關(guān)專業(yè)的本科生教材,也可作為材料、物理、化學(xué)、采礦、生物、醫(yī)藥、考古、深空探測(cè)等領(lǐng)域相關(guān)專業(yè)研究生和相關(guān)科研工作者的參考書(shū)

X射線粉末衍射是材料的晶體結(jié)構(gòu)表征最常用的技術(shù)之一。本書(shū)涵蓋X射線粉末衍射中的大部分知識(shí)點(diǎn),包括晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)、X射線衍射原理、X射線粉末衍射的實(shí)驗(yàn)技術(shù)、X射線粉末衍射的理解、衍射數(shù)據(jù)的基本處理、物相識(shí)別與定量分析、晶格參數(shù)和空間群的確定、晶體結(jié)構(gòu)解析與晶體結(jié)構(gòu)精修等內(nèi)容。同時(shí),本書(shū)還精選了大量的實(shí)例,通過(guò)圖文分步進(jìn)行介紹,有助于讀者掌握晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)及X射線粉末衍射的原理、實(shí)驗(yàn)技術(shù)與分析方法。
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