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中國電子信息工程科技發(fā)展研究 測量計量與儀器國內(nèi)外發(fā)展態(tài)勢研究

中國電子信息工程科技發(fā)展研究  測量計量與儀器國內(nèi)外發(fā)展態(tài)勢研究

定  價:119 元

        

  • 作者:中國信息與電子工程科技發(fā)展戰(zhàn)略研究中心
  • 出版時間:2025/3/1
  • ISBN:9787030811882
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:G203,TH761 
  • 頁碼:244
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:A5
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讀者對象:具有信息與電子工程科技領(lǐng)域背景、從事測量計量和儀器領(lǐng)域工作的專家學(xué)者、工程科技管理人才、科研工作者

推動高質(zhì)量發(fā)展已經(jīng)成為我國經(jīng)濟社會發(fā)展的主旋律,發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力是推動高質(zhì)量發(fā)展的內(nèi)在要求和重要著力點,而測量計量則是新質(zhì)生產(chǎn)力發(fā)展的重要基礎(chǔ)和保障,精密測量與儀器技術(shù)是支撐科技創(chuàng)新、科技進步與工業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要基礎(chǔ)。
  本書綜合闡述了測量計量技術(shù)與儀器儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展?fàn)顩r,以及當(dāng)前若干子領(lǐng)域的重要進展,如活體超分辨光學(xué)顯微成像技術(shù)與儀器、光譜橢偏測量技術(shù)與儀器、傳感器與物聯(lián)網(wǎng)測量技術(shù)、電池充放電激勵測試技術(shù)、衛(wèi)星電位與主動控制技術(shù)、集成電路制造與封裝測試技術(shù)與儀器、II類超晶格紅外探測器、量子計量技術(shù)、工業(yè)自動化計量技術(shù)、計量數(shù)字化轉(zhuǎn)型等,也介紹了國內(nèi)外相關(guān)技術(shù)的重要突破和技術(shù)成果,力圖從全球發(fā)展態(tài)勢著眼,聚焦領(lǐng)域熱點亮點,展現(xiàn)領(lǐng)域新進展、新特點、新趨勢,分析和研判測量計量與儀器領(lǐng)域年度科技發(fā)展動態(tài)與發(fā)展趨勢,為我國新一代國家測量體系建設(shè)和儀器產(chǎn)業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略規(guī)劃提供參考。


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