譯者簡(jiǎn)介

陳新 2003年畢業(yè)于成都電子科技大學(xué)， 同年加入安捷倫科技擔(dān)任計(jì)量軟件工程師， 2006年開(kāi)始擔(dān)任PNA固件工程師， 是脈沖測(cè)量、 增益壓縮、 差分測(cè)試等應(yīng)用的主要開(kāi)發(fā)者。與Joel合作在IEEE ARFTG年會(huì)上發(fā)表論文一篇。

楊洋 2010年畢業(yè)于北京郵電大學(xué)信息與通信工程學(xué)院， 2010年3月加入安捷倫科技軟件有限公司， 擔(dān)任軟件研發(fā)工程師至今。負(fù)責(zé)網(wǎng)絡(luò)分析儀Firmware的研發(fā)工作。

胡雨辰 分別于1999年和2001年獲得清華大學(xué)電機(jī)工程系本科和碩士學(xué)位。2006年9月加入安捷倫科技公司， 負(fù)責(zé)物理層測(cè)試系統(tǒng)（PLTS）的研發(fā)工作， 以及和安捷倫元器件測(cè)試部團(tuán)隊(duì)一起共同研發(fā)安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀的固件和應(yīng)用軟件。2008年獲得安捷倫科技創(chuàng)新最高獎(jiǎng)Barnholt Award。目前負(fù)責(zé)非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（NVNA）的軟件研發(fā)和材料測(cè)試軟件的研發(fā)指導(dǎo)工作。

吳昊 2012年7月畢業(yè)于清華大學(xué)電子工程系， 隨后加入安捷倫科技軟件有限公司并擔(dān)任軟件研發(fā)工程師至今， 主要從事安捷倫材料測(cè)試軟件的研發(fā)工作。

張亞平 2004年畢業(yè)于北京科技大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院， 2006年加入安捷倫公司元器件測(cè)試部門(mén)， 負(fù)責(zé)PNA應(yīng)用軟件（PLTS, AFR）的設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)工作。


劉娜 2009年畢業(yè)于北京郵電大學(xué)， 同年加入安捷倫公司， 主要負(fù)責(zé)阻抗分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀的應(yīng)用支持， 目前擔(dān)任元器件事業(yè)部市場(chǎng)應(yīng)用工程師。


程寧 2007年畢業(yè)于北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院， 加入安捷倫科技后擔(dān)任軟件研發(fā)工程師， 有六年的時(shí)間負(fù)責(zé)安捷倫物理層測(cè)試系統(tǒng)（PLTS）的研發(fā)工作。期間曾和Joel Dunsmore一同在ARFTG, DesignCon上發(fā)表過(guò)多篇與夾具移除相關(guān)的文章�，F(xiàn)在安捷倫元器件測(cè)試部擔(dān)任應(yīng)用工程師。

推 薦 序
電子元器件的不斷發(fā)展和進(jìn)步帶動(dòng)了整個(gè)產(chǎn)業(yè)的升級(jí)和變革。無(wú)處不在的高速無(wú)線互聯(lián)網(wǎng)， 多模多頻段的智能終端， 大規(guī)模MIMO天線陣列……無(wú)不依賴于元器件性能的提升， 新型材料的采用， 集成和互連工藝的進(jìn)步， 以及大批量， 小型化和低成本帶來(lái)的精益生產(chǎn)制造管理。作為支撐產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展的基礎(chǔ)， 電子測(cè)試和測(cè)量?jī)x器為元器件建模、 特征參數(shù)提取、 設(shè)計(jì)性能優(yōu)化， 以及質(zhì)量管理和控制都起到至關(guān)重要的作用�，F(xiàn)在我非常高興能向國(guó)內(nèi)同仁介紹喬爾敦思摩爾（Joel Dunsmore）博士最新推出的專著， 相信這本微波器件測(cè)量手冊(cè)能為廣大從事射頻、 微波以及高速數(shù)字設(shè)計(jì)和測(cè)試的工程師， 電子工程專業(yè)的學(xué)生， 及其他業(yè)內(nèi)專業(yè)人士提供最新的測(cè)量理論和技術(shù)。相信集30年微波測(cè)試經(jīng)驗(yàn)于大成的本手冊(cè)一定能成為廣大電子工程師手邊的工具書(shū)。
我在7年前安捷倫中國(guó)研發(fā)中心啟動(dòng)差分器件測(cè)量項(xiàng)目時(shí)認(rèn)識(shí)了喬爾博士。作為安捷倫矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要設(shè)計(jì)者之一， 喬爾在測(cè)量應(yīng)用算法設(shè)計(jì)、 測(cè)試流程及用戶體驗(yàn)， 以及產(chǎn)品質(zhì)量總體把控等諸方面都做出、 卓越貢獻(xiàn)。作為安捷倫最高級(jí)別的技術(shù)人員， 喬爾用他深厚的微波理論功底和純熟的器件測(cè)量知識(shí)而成為眾多年輕工程師的偶像； 他多年來(lái)行走于世界各地最先進(jìn)的射頻和微波技術(shù)開(kāi)發(fā)中心， 熱忱為用戶解決最具挑戰(zhàn)的測(cè)試問(wèn)題， 毫無(wú)保留地分享他的經(jīng)驗(yàn)， 從而贏得了眾多用戶的喜愛(ài)與尊敬。在過(guò)去7年間， 通過(guò)與喬爾和其他國(guó)外同事合作， 安捷倫中國(guó)通信產(chǎn)品中心在網(wǎng)絡(luò)分析儀上開(kāi)發(fā)了很多創(chuàng)新軟件產(chǎn)品。作為業(yè)界翹楚， 安捷倫電子測(cè)量?jī)x器以高性能、 高精度和高可靠性贏得信任。通過(guò)把先進(jìn)的測(cè)量方法集成于儀器平臺(tái)， 以系列化應(yīng)用軟件來(lái)幫助工程師解決最棘手的測(cè)試問(wèn)題， 安捷倫為電子測(cè)試和測(cè)量行業(yè)設(shè)立了新的標(biāo)桿。作為網(wǎng)絡(luò)分析儀最好的應(yīng)用指南， 這本微波器件測(cè)量手冊(cè)不僅全面系統(tǒng)地闡述了支持高精度測(cè)量背后的理論， 還將其付諸實(shí)際測(cè)量， 諸如對(duì)各種器件測(cè)試方法的利弊取舍， 儀器設(shè)置如何保證符合真實(shí)場(chǎng)景， 連接和夾具如何影響測(cè)量結(jié)果……這些對(duì)獲得完整、 可信和有效的測(cè)試數(shù)據(jù)尤為重要。
為數(shù)不少的中國(guó)工程師曾有機(jī)會(huì)參加喬爾的技術(shù)講座， 他也曾多次拜訪國(guó)內(nèi)的多個(gè)無(wú)線通信研發(fā)中心和電子器件設(shè)計(jì)院所。在北京的一次研討會(huì)后， 我曾詢問(wèn)有否可能把他近幾年的工作成果集結(jié)成冊(cè)。未曾料想， 他已經(jīng)利用周末和出差間歇開(kāi)始寫(xiě)作。于是我們國(guó)內(nèi)的同事開(kāi)始籌措翻譯工作， 爭(zhēng)取盡早推出中文版本。為了高質(zhì)量地完成這一專業(yè)翻譯工作， 眾多研發(fā)和應(yīng)用工程師投入了大量的個(gè)人時(shí)間。每一位譯稿參與者都有幸與喬爾合作。陳新和楊洋是平衡器件測(cè)量、 脈沖測(cè)量、 器件控制協(xié)同測(cè)試軟件的主要開(kāi)發(fā)人員； 胡雨辰獨(dú)立完成了非線性X參數(shù)應(yīng)用軟件的設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)； 張亞平和程寧是物理層測(cè)試應(yīng)用軟件的主要開(kāi)發(fā)者， 并在測(cè)量夾具自動(dòng)去除上很有創(chuàng)新； 新加入團(tuán)隊(duì)的吳昊為材料測(cè)試軟件的最新發(fā)布做出了貢獻(xiàn)。劉迪作為應(yīng)用工程師曾為很多用戶在放大器參數(shù)提取和測(cè)試夾具設(shè)計(jì)等方面提供技術(shù)支持和服務(wù)……
完成一本技術(shù)專著翻譯的挑戰(zhàn)大大超越了我們的預(yù)想。在此感謝作為翻譯項(xiàng)目管理和總協(xié)調(diào)者的應(yīng)用工程師劉娜， 以及其他為本書(shū)能順利出版做出貢獻(xiàn)的同事。希望這本書(shū)能為業(yè)界同仁提供切實(shí)的幫助。


安捷倫科技中國(guó)通信產(chǎn)品中心總經(jīng)理

譯 者 序
本書(shū)是由安捷倫科技公司院士級(jí)專家Joel Dunsmore博士編寫(xiě)的關(guān)于微波測(cè)量的理論與應(yīng)用著作。自1983年從俄勒岡州立大學(xué)畢業(yè)以后， Joel先生在惠普/安捷倫已經(jīng)工作了30多年， 在射頻微波測(cè)試領(lǐng)域積累了豐富的理論和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本書(shū)的譯者全部為安捷倫元器件測(cè)量部門(mén)在中國(guó)的資深研發(fā)工程師和市場(chǎng)工程師， 在國(guó)內(nèi)射頻微波領(lǐng)域也有著豐富的經(jīng)驗(yàn)。各位譯者在通讀了各章之后深切體會(huì)到本書(shū)的博大精深和其對(duì)微波測(cè)量的實(shí)用性， 以及Joel博士對(duì)微波測(cè)量的深刻理解和見(jiàn)地。本書(shū)的各種公式圖表都有助于理解實(shí)際測(cè)量中的問(wèn)題， 同時(shí)文字表述上盡量不用復(fù)雜的定義。本書(shū)第1章中有對(duì)常用概念的回顧， 但是后面的大部分內(nèi)容都是偏向應(yīng)用的， 適合對(duì)射頻微波測(cè)量有一定基礎(chǔ)的工程師進(jìn)行閱讀。
在翻譯過(guò)程中， 譯者對(duì)全文中的極少數(shù)筆誤和疏漏之處進(jìn)行了修正， 并盡量使用業(yè)內(nèi)常用語(yǔ)言進(jìn)行描述和解釋， 力求中文版與英文原版一樣體現(xiàn)出內(nèi)容的實(shí)用性和易讀性， 使讀者真正理解并受益。
全書(shū)的翻譯分工為： 前言和第1章由劉娜翻譯， 第2章由楊洋翻譯， 第3章由楊洋和程寧共同翻譯， 第4章由吳昊翻譯， 第5章由吳昊和胡雨辰共同翻譯， 第6章由胡雨辰和陳新共同翻譯， 第7章由陳新和張亞平共同翻譯， 第8章由張亞平翻譯， 第9章由程寧翻譯。參與全書(shū)校對(duì)工作的除上述翻譯工作人員之外， 還有劉迪、 石會(huì)敏和曹旭等。
本書(shū)的翻譯工作得到了安捷倫科技中國(guó)通信產(chǎn)品中心總經(jīng)理魏向東的大力支持、 鼓勵(lì)和幫助， 在此我們深表感謝！同時(shí)也由衷地感謝元器件測(cè)量部門(mén)市場(chǎng)部經(jīng)理李堅(jiān)， 研發(fā)部經(jīng)理張擁勛， 以及現(xiàn)Maury公司中國(guó)區(qū)總經(jīng)理張念民先生對(duì)此書(shū)翻譯工作和成功出版所付出的時(shí)間與努力！
由于時(shí)間倉(cāng)促， 其中的錯(cuò)誤和不妥之處在所難免， 懇請(qǐng)各位讀者進(jìn)行批評(píng)指正， 共同進(jìn)步。

序
電子行業(yè)在過(guò)去的20年里發(fā)生了翻天覆地的變化： 系統(tǒng)性能有了巨大的改進(jìn)， 硬件尺寸越來(lái)越小， 質(zhì)量和可靠性都有了很大提高， 制造的成本也越來(lái)越低。在這種形勢(shì)下， 其底層的射頻測(cè)試與測(cè)量技術(shù)也同時(shí)飛速發(fā)展著�，F(xiàn)在的很多射頻測(cè)試設(shè)備可以毫秒級(jí)的速度來(lái)測(cè)量-100 dBm以下的信號(hào)。更令人稱奇的是， 測(cè)量?jī)x表的射頻測(cè)量功能與計(jì)算機(jī)的軟件分析功能相結(jié)合， 可以構(gòu)建被測(cè)件的線性與非線性模型， 大大縮短了設(shè)計(jì)人員的設(shè)計(jì)周期。
在這種革命性的發(fā)展變化中， 射頻與微波器件起著非常重要的作用。由于器件的尺寸越來(lái)越小， 塑料的使用減少了， 對(duì)質(zhì)量的要求越來(lái)越高， 成本也大大減少。同時(shí)， 測(cè)試夾具和互連器件經(jīng)過(guò)定性分析與產(chǎn)線測(cè)量， 其精度也達(dá)到了前所未有的高度。與這種發(fā)展趨勢(shì)相呼應(yīng)的是， 測(cè)量設(shè)備能夠?qū)ι漕l微波器件進(jìn)行快速精準(zhǔn)的測(cè)量。射頻微波器件制造商的成功與否已經(jīng)與器件設(shè)計(jì)、 驗(yàn)證和生產(chǎn)階段的測(cè)量質(zhì)量和測(cè)量能力直接相關(guān)。從實(shí)際的角度講， 測(cè)試必須是快速的（1~2 s）， 精度必須很高（百分之一dB）并且重復(fù)性非常好。器件生產(chǎn)周期的每一步都對(duì)測(cè)量精度和數(shù)據(jù)收集有著獨(dú)特的要求。
在設(shè)計(jì)階段， 必須全面地表征元器件的性能（包括幅度和相位）來(lái)為以后的制造環(huán)節(jié)做一個(gè)參考。因此需要在實(shí)際測(cè)試時(shí)對(duì)整個(gè)測(cè)試的配置進(jìn)行測(cè)量， 以去除測(cè)試設(shè)置和夾具的影響， 保證測(cè)試得到的最終數(shù)據(jù)只包含被測(cè)器件的特性。因此， 設(shè)計(jì)階段得到的性能數(shù)據(jù)是未來(lái)產(chǎn)線中進(jìn)行批量測(cè)試統(tǒng)計(jì)評(píng)估的黃金參考。根據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)定義產(chǎn)線產(chǎn)品為合格和不合格， 通常來(lái)說(shuō)其標(biāo)準(zhǔn)偏差就是測(cè)試或質(zhì)檢工程師為了評(píng)估產(chǎn)品通過(guò)率而密切監(jiān)測(cè)的數(shù)據(jù)。
當(dāng)給一個(gè)器件公布其指標(biāo)數(shù)據(jù)時(shí)， 我們需要知道這個(gè)數(shù)據(jù)只是該器件總體性能的一個(gè)描述。只有提供了所有參數(shù)的數(shù)據(jù)和圖表（包括幅度和相位）， 才能知道這個(gè)器件的真實(shí)性能。除此之外， 當(dāng)用戶測(cè)試這些器件的性能時(shí)， 不僅要提供標(biāo)定值以內(nèi)（合規(guī)）的數(shù)據(jù)， 也需要提供標(biāo)定值以外（不合規(guī)）的數(shù)據(jù)。
對(duì)于一個(gè)非線性器件來(lái)說(shuō)（如混頻器）， 射頻和本振會(huì)產(chǎn)生高階諧波， 同時(shí)由于指定頻率以外的負(fù)載阻抗影響， 高階諧波會(huì)反射回混頻器， 導(dǎo)致期望信號(hào)和諧波之間互相作用。值得慶幸的是， 目前的網(wǎng)絡(luò)儀可以快速容易地測(cè)量這些諧波。Dunsmore先生抓住了這些現(xiàn)代測(cè)量方法的精髓， 通過(guò)這本書(shū)他告訴測(cè)試工程師不僅要測(cè)量， 更要了解測(cè)量中的基本概念， 對(duì)測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行預(yù)估， 以及考慮到測(cè)試環(huán)境中的各種潛在的誤差， 如何去除測(cè)試設(shè)置影響而得到真實(shí)有效的DUT測(cè)量結(jié)果。我非常相信這本書(shū)會(huì)作為了解測(cè)量方法、 測(cè)試框圖和測(cè)量局限性的一本參考讀物， 并在制造商和測(cè)量用戶之間搭起一座橋梁。我相信本書(shū)在射頻微波界未來(lái)的發(fā)展中具有不可估量的參考價(jià)值。

Harvey Kaylie
Mini-Circuits公司創(chuàng)始人兼總裁
前 言
本書(shū)內(nèi)容的難度介于基礎(chǔ)與高級(jí)之間， 同時(shí)也兼顧理論與實(shí)際應(yīng)用。但是其間的界限并非絲絲分明， 如果讀者的培訓(xùn)或測(cè)量經(jīng)驗(yàn)比較多， 也許能察覺(jué)一二。本書(shū)大部分內(nèi)容是關(guān)于測(cè)量技術(shù)的， 但為了便于設(shè)計(jì)和測(cè)試人員理解， 也有相當(dāng)?shù)膬?nèi)容是有關(guān)器件屬性的， 因?yàn)闇y(cè)試的目的就是為了確保測(cè)量參數(shù)符合器件的簡(jiǎn)化模型。在實(shí)際應(yīng)用中， 一些預(yù)期之外的事件可能會(huì)占掉測(cè)量和查錯(cuò)的大部分時(shí)間， 尤其是測(cè)量放大器、 混頻器等有源器件時(shí)。
測(cè)量微波器件的基本儀器就是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀， 而近期的一些技術(shù)改進(jìn)也使得網(wǎng)絡(luò)分析儀可以測(cè)試比簡(jiǎn)單的增益和匹配復(fù)雜百倍的情況。作為一個(gè)有30多年經(jīng)驗(yàn)的網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)計(jì)工程師， 我曾給大量的微波測(cè)試做過(guò)顧問(wèn)， 從簡(jiǎn)單的手機(jī)電話， 到復(fù)雜的雷達(dá)多工器等。而本書(shū)的出發(fā)點(diǎn)和目標(biāo)是給讀者分享一些我多年積累的經(jīng)驗(yàn)， 以幫助研發(fā)人員和測(cè)試工程師改善測(cè)試質(zhì)量和效率。本書(shū)的核心是現(xiàn)代測(cè)量方法， 也會(huì)分享一些隨著儀器發(fā)展的傳統(tǒng)方法與新技術(shù)之間的區(qū)別。
本書(shū)第1章是微波理論與微波器件的概述。前半部分介紹了射頻和微波的一些通用概念， 列舉了一些重要的數(shù)學(xué)結(jié)論， 這些數(shù)學(xué)公式非常有助于對(duì)后續(xù)章節(jié)的理解。后半部分介紹了一些常見(jiàn)的微波連接器， 傳輸線和器件， 還介紹了基本的微波測(cè)量?jī)x器。本章對(duì)射頻微波測(cè)試的新手是非常有用的。
第2章介紹了目前常用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的結(jié)構(gòu)和組成， 以及其局限性。對(duì)于有些用戶來(lái)說(shuō)這方面的內(nèi)容不需要知道太多， 但對(duì)于想深入準(zhǔn)確地理解測(cè)試結(jié)果的測(cè)試工程師來(lái)說(shuō)， 這部分內(nèi)容是非常實(shí)用的， 可以幫助他們發(fā)現(xiàn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀自身配置對(duì)整體測(cè)量結(jié)果的影響。目前的現(xiàn)代矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以進(jìn)行相當(dāng)廣泛的測(cè)量， 包括失真、 功率和噪聲系數(shù)等， 但究其根本都是一般的S參數(shù)測(cè)量（本章的第二部分將給出由S參數(shù)計(jì)算得到的各種有用參數(shù)）。
在使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀時(shí)最神秘的部分也許就是校準(zhǔn)和誤差校正了。第3章介紹矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差源模型、 校準(zhǔn)方法， 討論不確定度和校準(zhǔn)殘留誤差。本章還介紹了源功率校準(zhǔn)和接收機(jī)功率校準(zhǔn)技術(shù)， 這些內(nèi)容目前在其他的書(shū)籍上很難找到。最后給出了一些影響矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)效果的因素和實(shí)例分析。
第4章是與數(shù)學(xué)公式相關(guān)最多的， 討論了一些用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行時(shí)域轉(zhuǎn)換時(shí)比較實(shí)用的問(wèn)題， 特別介紹了“門(mén)選通”（gating）的作用和補(bǔ)償方法。本書(shū)的前四章不僅包含了引導(dǎo)性的信息， 也覆蓋了一些微波器件測(cè)量的方法。
其他的章節(jié)都是針對(duì)特定微波器件的應(yīng)用實(shí)例來(lái)進(jìn)行討論的。第5章是無(wú)源微波器件， 如電纜和轉(zhuǎn)接頭， 傳輸線， 濾波器， 隔離器和耦合器， 等等。對(duì)于每一種器件， 書(shū)中都介紹了一些測(cè)量的最佳實(shí)踐和常見(jiàn)問(wèn)題的解決方法。
第6章的內(nèi)容是測(cè)量放大器， 為了更好地理解放大器的特性， 中間還穿插了一些必須理解的概念。其間還特別提到了測(cè)量高增益和大功率放大器時(shí)遇到的一些問(wèn)題， 包括脈沖射頻測(cè)試。對(duì)于非線性測(cè)試， 如諧波和雙音互調(diào)測(cè)試， 失真和噪聲測(cè)量， 無(wú)論是用頻譜儀還是網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)測(cè)量， 其概念都是一致的。
第7章將有源器件的討論擴(kuò)展到混頻器的范圍。由于缺乏混頻器的測(cè)量經(jīng)驗(yàn)， 有些工程師對(duì)于混頻器測(cè)量的知識(shí)大多從比較淺顯的課程中獲得。本章先是詳細(xì)討論了混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器件的模型與主要特性。混頻器的測(cè)量方法可能會(huì)非常復(fù)雜， 尤其是相位和時(shí)延響應(yīng)測(cè)量。本章對(duì)幾種主要的測(cè)量方法進(jìn)行了討論， 包括校準(zhǔn)、 使用相位參考件等， 這些信息都是第一次展現(xiàn)給讀者。除了幅度和相位的頻率響應(yīng)， 本章也介紹了混頻器特性和射頻， 本振功率， 還有失真和噪聲的測(cè)量。對(duì)于混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器件相關(guān)的測(cè)試工程師來(lái)說(shuō)， 本章是絕佳的閱讀參考文獻(xiàn)。
第8章引入了差分與平衡器件的概念， 并給出了較為詳細(xì)的差分器件的分析和測(cè)量方法， 包括非線性響應(yīng)、 噪聲系數(shù)與失真等。
第9章介紹了一些對(duì)測(cè)試工程師非常有用的技術(shù)與概念， 尤其是與測(cè)量夾具相關(guān)的， 例如創(chuàng)建夾具內(nèi)校準(zhǔn)件等。
致 謝
感謝我的同事在本書(shū)的編寫(xiě)和檢查過(guò)程中所給予的幫助。感謝研發(fā)經(jīng)理Henri Komrij和元器件測(cè)量部門(mén)總經(jīng)理Greg Peters從本書(shū)的初始規(guī)劃之時(shí)就給予的大力支持。衷心感謝我們實(shí)驗(yàn)室的以下研發(fā)工程師在原稿內(nèi)容檢查時(shí)給予的各自專業(yè)領(lǐng)域的意見(jiàn)： Keith Anderson, Dara Sarislani, Dave Blackham, Ken Wong, Shinya Goto, Bob Shoulders, Dave Ballo, Clive Barnett, 程寧， 陳新， Mihai Marcu 和 Loren Betts等。感謝他們對(duì)于本書(shū)的成功完成所給予的巨大幫助。如果書(shū)中還殘存其他的錯(cuò)誤， 我表示很抱歉并且承擔(dān)全部責(zé)任。
書(shū)中所列舉的諸多較新的測(cè)量技術(shù)和方法都依賴于其復(fù)雜但精確的實(shí)現(xiàn)， 因此在這里我要感謝我們的軟件設(shè)計(jì)組成員： Johan Ericsson, SueWood, Jim Kerr, Phil Hoard, Jade Hughes, Brad Hokkanen, Niels Jensen, Raymond Taylor, Dennis McCarthy, Andy Cannon, Wil Stark, 胡雨辰， Zhi-Wen Wong 和楊洋等， 以及他們的經(jīng)理Sean Hubert, Qi Gao 和 Dexter Yamaguchi， 感謝他們幾年來(lái)對(duì)于我們產(chǎn)品的實(shí)現(xiàn)所給予的所有幫助。
最后我想紀(jì)念一下我在英國(guó)利茲大學(xué)的博士生顧問(wèn)， 并且同時(shí)也是我在HP和安捷倫公司的同事Roger Pollard博士， 感謝他的意見(jiàn)、 指導(dǎo)以及對(duì)我的友誼。我會(huì)永遠(yuǎn)懷念他。

Joel P. Dunsmore
于Sebastopol, CA