第1章 緒論
1.1 引言
1.1.1 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的基本概念
1.1.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的重要地位
1.1.3 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的起源和發(fā)展
1.1.4 數(shù)字測(cè)試儀表的特點(diǎn)
1.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)
1.2.1 現(xiàn)狀
1.2.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)
1.3 數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)組建的基本框架
1.4 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)涉及的核心問題
1.4.1 測(cè)試中激勵(lì)信號(hào)（信號(hào)源）的產(chǎn)生
1.4.2 被測(cè)信號(hào)數(shù)字化處理
1.5 與被測(cè)對(duì)象相關(guān)的測(cè)試信號(hào)接口
1.5.1 總線和接口簡(jiǎn)述
1.5.2 接口標(biāo)準(zhǔn)分類
1.5.3 測(cè)試儀器的主要通信接口
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第2章 數(shù)字化測(cè)試?yán)碚撆c技術(shù)基礎(chǔ)
2.1 歸一化頻譜與測(cè)試采樣
2.1.1 信號(hào)
2.1.2 信號(hào)的基本運(yùn)算
2.1.3 連續(xù)時(shí)間信號(hào)采樣
2.1.4 系統(tǒng)
2.2 數(shù)字頻譜在測(cè)試中的應(yīng)用
2.2.1 傅里葉表示
2.2.2 卷積
2.2.3 快速離散傅里葉變換
2.3 數(shù)字濾波在測(cè)試中的應(yīng)用
2.3.1 簡(jiǎn)介
2.3.2 IIR的設(shè)計(jì)方法
2.3.3 FIR設(shè)計(jì)
2.3.4 濾波器的使用
2.3.5 信號(hào)濾波技術(shù)
2.4 測(cè)試中的實(shí)時(shí)信號(hào)處理
2.4.1 信號(hào)分析與處理問題概述
2.4.2 動(dòng)態(tài)信號(hào)的時(shí)域參數(shù)提取
2.4.3 動(dòng)態(tài)信號(hào)的頻譜分析
2.5 測(cè)試中的自適應(yīng)信號(hào)處理
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第3章 現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集技術(shù)及應(yīng)用
3.1 數(shù)據(jù)采集技術(shù)綜述
3.2 現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
3.2.1 概述
3.2.2 數(shù)據(jù)采集原理
3.2.3 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)結(jié)構(gòu)組成
3.2.4 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的主要性能指標(biāo)
3.2.5 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的發(fā)展方向
3.3 測(cè)試信號(hào)模擬前端
3.3.1 模擬前端的結(jié)構(gòu)組成
3.3.2 傳感器技術(shù)
3.3.3 隔離電路
3.3.4 模擬多路開關(guān)
3.3.5 測(cè)量放大器
3.3.6 模擬濾波器
3.4 現(xiàn)代模／數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器
3.4.1 A/D轉(zhuǎn)換器分類
3.4.2 幾種典型A/D轉(zhuǎn)換器的原理和特點(diǎn)
3.4.3 評(píng)價(jià)A/D轉(zhuǎn)換器性能的關(guān)鍵指標(biāo)
3.4.4 A/D轉(zhuǎn)換器的選擇和使用
3.4.5 A/D轉(zhuǎn)換器與CPU的接口設(shè)計(jì)問題
3.5 存儲(chǔ)系統(tǒng)
3.5.1 存儲(chǔ)器概述
3.5.2 半導(dǎo)體存儲(chǔ)器
3.5.3 存儲(chǔ)器與CPU的連接
……
第4章 DSP系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用
第5章 數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)EDA設(shè)計(jì)
第6章 測(cè)試信號(hào)接入、傳輸與總線技術(shù)