本書主要內(nèi)容包括：基本概念、IEEE1149.X標準、單板級可測性設(shè)計、邊界掃描測試應(yīng)用、內(nèi)建自測試技術(shù)、處理器測試技術(shù)、嵌入式測試技術(shù)。 本書適合于相關(guān)領(lǐng)域工程技術(shù)人員閱讀，也可作為高等院校電子信息、通信、測試測控、自動化等專業(yè)高年級學(xué)生或研究生的教學(xué)參考書。