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半導體集成電路的可靠性及評價方法

半導體集成電路的可靠性及評價方法

定  價:88 元

叢書名:可靠性技術(shù)叢書

        

  • 作者:章曉文 編著
  • 出版時間:2015/10/1
  • ISBN:9787121271601
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN43 
  • 頁碼:412
  • 紙張:輕型紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  本書共11章,以硅集成電路為中心,重點介紹了半導體集成電路及其可靠性的發(fā)展演變過程、集成電路制造的基本工藝、半導體集成電路的主要失效機理、可靠性數(shù)學、可靠性測試結(jié)構(gòu)的設(shè)計、MOS場效應管的特性、失效機理的可靠性仿真和評價。隨著集成電路設(shè)計規(guī)模越來越大,設(shè)計可靠性越來越重要,在設(shè)計階段借助可靠性仿真技術(shù),評價設(shè)計出的集成電路可靠性能力,針對電路設(shè)計中的可靠性薄弱環(huán)節(jié),通過設(shè)計加固,可以有效提高產(chǎn)品的可靠性水平,提高產(chǎn)品的競爭力。
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