現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)原理與應(yīng)用
定 價(jià)：32 元
- 作者：何廣軍主編
- 出版時(shí)間：2012/6/1
- ISBN：9787118080742
- 出 版 社：國防工業(yè)出版社
- 中圖法分類：TB4
- 頁碼：232頁
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：16開
《現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)原理與應(yīng)用》從理論和實(shí)踐相結(jié)合的角度，以構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)的各環(huán)節(jié)為主線，詳細(xì)闡述了測(cè)試技術(shù)的基本理論、原理和應(yīng)用。《現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)原理與應(yīng)用》共分6章，內(nèi)容包括測(cè)試技術(shù)的有關(guān)概念、測(cè)試誤差理論、常用傳感器工作原理及應(yīng)用、測(cè)控總線技術(shù)及應(yīng)用、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、測(cè)試性與故障診斷技術(shù)等。
《現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)原理與應(yīng)用》可作為高等院校測(cè)控技術(shù)及儀器、電氣工程及其自動(dòng)化等相關(guān)專業(yè)本科生的教材和教學(xué)參考書，也可作為有關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員的參考書。
第1章 測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
1.1 測(cè)試與測(cè)試系統(tǒng)
1.1.1 測(cè)試
1.1.2 測(cè)試系統(tǒng)
1.2 電子測(cè)量與電子儀器
1.2.1 電子測(cè)量及方法
1.2.2 電子測(cè)量儀器
1.2.3 測(cè)量儀器的主要性能
1.3 測(cè)量誤差及處理
1.3.1 誤差分類
1.3.2 誤差的表示方法
1.3.3 減小誤差的方法
1.4 誤差的合成與分配
1.4.1 測(cè)量誤差的合成
1.4.2 測(cè)量誤差的分配
思考與練習(xí)題
第2章 傳感器技術(shù)
2.1 傳感器概述
2.2 應(yīng)變式傳感器
2.2.1 電阻應(yīng)變效應(yīng)
2.2.2 應(yīng)變計(jì)的結(jié)構(gòu)與分類
2.2.3 應(yīng)變式傳感器的應(yīng)用
2.3 光電式傳感器
2.3.1 光電效應(yīng)
2.3.2 光電管
2.3.3 光敏電阻
2.4 壓電式傳感器
2.4.1 壓電效應(yīng)
2.4.2 壓電傳感器的等效電路
2.4.3 壓電傳感器的應(yīng)用
2.5 霍耳傳感器
2.5.1 霍耳效應(yīng)
2.5.2 霍耳器件的特性
2.5.3 霍耳傳感器的應(yīng)用
2.6 電容式傳感器
2.6.1 電容式傳感器的工作原理
2.6.2 電容式傳感器的應(yīng)用
2.7 光纖傳感器
2.7.1 光纖
2.7.2 光纖傳感器的應(yīng)用
2.8 空天傳感器
2.8.1 概述
2.8.2 攝影類傳感器
2.8.3 掃描成像類傳感器
2.8.4 微波成像類傳感器
2.9 智能傳感器
2.10 傳感器管理
2.10.1 傳感器管理的概念與內(nèi)容
2.10.2 傳感器管理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)
2.10.3 傳感器管理的主要技術(shù)
思考與練習(xí)題
第3章 總線技術(shù)
3.1 總線概述
3.1.1 總線的概念和分類
3.1.1 總線的組成
3.1.3 總線的性能參數(shù)
3.2 常見微型機(jī)總線
3.2.1 STD總線
3.2.2 PC—104總線
3.2.3 USB總線
3.2.4 IEEE 1394總線
3.3 CPIB總線
3.3.1 CPIB總線概述
3.3.2 CPIB總線特性
3.3.3 GPIB總線接口信號(hào)
3.3.0 GPIB總線三線掛鉤過程
3.4 RS—232C/422/485總線
3.4.1 RS—232C/422/485總線概述
3.4.2 RS—232/422/485總線接口信號(hào)
3.4.3 RS—232/422/485總線特性
3.4.4 RS—232/422/485總線拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
3.5 VXI總線
3.5.1 VXI總線概述
3.5.2 VXI總線接口信號(hào)
3.5.3 VXI總線系統(tǒng)控制方案
3.5.4 硬件寄存器與通信
3.5.5 VXI總線接口軟件
3.5.6 電磁兼容與噪聲
3.6 1553B總線
3.6.1 1553B總線概述
3.6.2 1553B總線特性
3.6.3 1553B總線消息傳輸機(jī)制
3.6.41553B總線應(yīng)用
3.7 PXI總線
3.7.1 PXI總線概述
3.7.2 PXI機(jī)械特性
3.7.3 PXI總線規(guī)范
3.7.4 PXI系統(tǒng)控制器
思考與練習(xí)題
第4章 虛擬儀器技術(shù)
4.1 虛擬儀器基本概念
4.1.1 虛擬儀器技術(shù)
4.1.2 虛擬儀器的組成
4.1.3 虛擬儀器技術(shù)的優(yōu)勢(shì)
4.2 虛擬儀器的軟件標(biāo)準(zhǔn)
4.2.1 VISA技術(shù)
4.2.2 SCPI技術(shù)
4.2.3 VPP技術(shù)
4.2.4 IVI技術(shù)
4.3 虛擬儀器開發(fā)環(huán)境
4.3.1 Lab VIEW
4.3.2 Measurement Studio
4.3.3 Lab Windows/CVI
4.3.4 VisualC++
4.3.5 Visual Basic
4.3.6 Agilent VEE
4.4 虛擬儀器設(shè)計(jì)示例
4.4.1 產(chǎn)生不同的測(cè)試信號(hào)
4.4.2 信號(hào)頻譜分析示例
4.4.3 數(shù)字濾波器
4.4.4 曲線擬合
思考與練習(xí)題
第5章 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
5.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
5.1.1 概述
5.1.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)
5.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)
5.2.1 硬件資源配置
5.2.2 輸入通道的設(shè)計(jì)
5.2.3 輸出通道的設(shè)計(jì)
5.2.4 硬件設(shè)計(jì)應(yīng)注意的幾個(gè)問題
5.3 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)
5.4 系統(tǒng)設(shè)計(jì)舉例
5.4.1 工業(yè)鍋爐測(cè)試系統(tǒng)
5.4.2 導(dǎo)彈譯碼器測(cè)試系統(tǒng)
思考與練習(xí)題
第6章 測(cè)試性與故障診斷技術(shù)
6.1 測(cè)試性
6.1.1 測(cè)試性的概念
6.1.2 測(cè)試性描述
6.1.3 測(cè)試點(diǎn)選擇與測(cè)試策略
6.1.4 測(cè)試性分析與設(shè)計(jì)軟件
6.2 故障與故障診斷
6.2.1 故障
6.2.2 故障診斷
6.2.3 故障診斷的基本方法
6.2.4 故障樹分析法
6.2.5 專家系統(tǒng)故障診斷
6.2.6 故障診斷技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
思考與練習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第1章 測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
1.1 測(cè)試與測(cè)試系統(tǒng)
1.1.1 測(cè)試
測(cè)試就是利用實(shí)驗(yàn)的方法，借助于一定的儀器或者設(shè)備，得到被測(cè)量數(shù)據(jù)大小，描述被測(cè)量性質(zhì)和屬性的過程。測(cè)量是測(cè)試最基本、最原始的含義，是測(cè)試的一部分。測(cè)量是人們借助于專門的測(cè)量工具，通過實(shí)驗(yàn)的方法，把被測(cè)量直接或者間接地與作為測(cè)量單位的已知量相比較，從而取得數(shù)量觀念的認(rèn)識(shí)過程。測(cè)量結(jié)果包含一定的數(shù)值（絕對(duì)值大小、符號(hào)、誤差范圍）和單位兩部分。檢測(cè)是在傳統(tǒng)的測(cè)量學(xué)基礎(chǔ)上，以檢測(cè)儀器為主要工具，輔助于專門的設(shè)備、計(jì)算機(jī)、網(wǎng)絡(luò)等手段，通過適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)方法、必要的信號(hào)分析及定量的數(shù)據(jù)處理，由測(cè)得信號(hào)求取與研究被測(cè)對(duì)象的有關(guān)信息量值，完成有用信息的獲取等任務(wù)。
測(cè)試是包含有測(cè)量和檢測(cè)含義的更深、更廣的概念。測(cè)量是以檢出信號(hào)，確定被測(cè)對(duì)象屬性的量值為目的；檢測(cè)則是需要在檢出信號(hào)的基礎(chǔ)上作進(jìn)一步的信號(hào)處理和數(shù)據(jù)分析判斷等。
測(cè)試技術(shù)隸屬于實(shí)驗(yàn)科學(xué)，它主要研究客觀對(duì)象各種物理量的測(cè)量原理，信息獲取、傳輸、顯示及測(cè)試結(jié)果的分析與處理等相關(guān)內(nèi)容。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、傳感器技術(shù)、大規(guī)模集成電路技術(shù)、通信技術(shù)等的飛速發(fā)展，使測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域日益發(fā)生著巨大的變化，從而產(chǎn)生了現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)，其顯著特點(diǎn)是計(jì)算機(jī)技術(shù)與測(cè)試技術(shù)的結(jié)合�；诂F(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的，以計(jì)算機(jī)為核心的測(cè)試系統(tǒng)稱為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ Automatic Test System，ATS），該系統(tǒng)一般具有開放化、遠(yuǎn)程化、智能化、多樣化、網(wǎng)絡(luò)化、系統(tǒng)大型化和微型化、數(shù)據(jù)處理自動(dòng)化等特點(diǎn)。
隨著自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的規(guī)模越來越龐大，結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜，在測(cè)試技術(shù)中逐步引人了系統(tǒng)工程的思想，使得測(cè)試技術(shù)與系統(tǒng)工程相結(jié)合，逐步發(fā)展成測(cè)試工程學(xué)。測(cè)試工程學(xué)主要研究測(cè)試?yán)碚摗y(cè)試技術(shù)、信號(hào)處理、信息傳輸、數(shù)據(jù)分析判斷、測(cè)試管理以及測(cè)試系統(tǒng)的集成與控制等內(nèi)容。
裝備測(cè)試是指在裝備研制、生產(chǎn)及使用過程中所進(jìn)行的各種測(cè)試。測(cè)試的目的在于檢查裝備的功能和技術(shù)性能，發(fā)現(xiàn)定位故障，調(diào)整不合格的參數(shù)或更換有故障的部件，以保證裝備技術(shù)性能符合要求及裝備處于良好的戰(zhàn)備狀態(tài)。
……
書單推薦
