目錄
前言
緒論 1
第一篇 X射線熒光光譜基本原理
第一章 X射線物理學(xué)基礎(chǔ) 8
§1.1 X射線的本質(zhì)和定義 8
§1.2 X射線光譜 8
§1.3 莫塞萊定律 17
§1.4 X射線與物質(zhì)的相互作用 18
§1.5 布拉格定律 27
§1.6 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額 28
§1.7 譜線分?jǐn)?shù) 31
參考文獻(xiàn) 31
第二章 X射線熒光強(qiáng)度的理論計(jì)算 33
§2.1 概述 33
§2.2 激發(fā)因子 33
§2.3 X光管原級(jí)譜的強(qiáng)度分布和譜儀的幾何因子 34
§2.4 一次（原級(jí)）熒光強(qiáng)度的計(jì)算 35
§2.5 二次（次級(jí)）熒光強(qiáng)度的計(jì)算 38
§2.6 三次（第三級(jí)）熒光強(qiáng)度的計(jì)算 41
§2.7 X射線熒光相對(duì)強(qiáng)度理論計(jì)算的小結(jié) 43
參考文獻(xiàn) 44
第二篇 X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
第三章 激發(fā)源和探測(cè)器 45
§3.1 概述 45
§3.2 激發(fā)源 46
§3.3 探測(cè)器 55
參考文獻(xiàn) 66
第四章 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能 67
§4.1 概述 67
§4.2 光源 69
§4.3 原級(jí)譜濾光片 71
§4.4 通道面罩和準(zhǔn)直器 72
§4.5 分光晶體 73
§4.6 探測(cè)器 77
§4.7 測(cè)角儀 78
§4.8 脈沖高度分析器 80
§4.9 系統(tǒng)軟件 83
§4.10 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的性能測(cè)試方法 84
參考文獻(xiàn) 85
第五章 能量色散和全反射X射線熒光光譜儀 87
§5.1 能量色散X射線熒光光譜儀 87
§5.2 譜峰位和譜強(qiáng)度數(shù)據(jù)的提取 99
§5.3 基體校正 105
§5.4 全反射X射線熒光光譜儀 106
參考文獻(xiàn) 109
第三篇 X射線熒光光譜定性和定量分析
第六章 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法 112
§6.1 概述 112
§6.2 元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng) 113
§6.3 基本參數(shù)法 115
§6.4 理論影響系數(shù)法 119
§6.5 基本參數(shù)法和理論影響系數(shù)法的應(yīng)用 125
§6.6 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法 127
參考文獻(xiàn) 133
第七章 實(shí)驗(yàn)校正法 135
§7.1 校正曲線法 135
§7.2 內(nèi)標(biāo)法 135
§7.3 標(biāo)準(zhǔn)加人法和標(biāo)準(zhǔn)稀釋法 140
參考文獻(xiàn) 141
第八章 定性和半定量分析 142
§8.1 概述 142
§8.2 定性分析 143
§8.3 半定量分析 146
參考文獻(xiàn) 153
第九章 定量分析 154
§9.1 概述 154
§9.2 波長(zhǎng)色散譜儀定量分析條件的選擇 155
§9.3 能量色散譜儀定量分析條件的選擇 163
§9.4 校正曲線的制定 163
§9.5 定量分析方法簡(jiǎn)介 166
§9.6 定量分析方法的準(zhǔn)確度評(píng)價(jià) 184
§9.7 儀器漂移的校正 185
參考文獻(xiàn) 185
第十章 薄膜和多層膜分析 187
§10.1 薄試樣和厚試樣 187
§10.2 單層和多層膜的熒光強(qiáng)度計(jì)算 188
§10.3 非無(wú)限厚試樣的定量分析 189
參考文獻(xiàn) 197
第四篇 樣品制備和不確定度評(píng)定
第十—章 樣品制備 199
§11.1 基本概念 199
§11.2 樣品的預(yù)加工 200
§11.3 固體樣品的制備方法 201
§11.4 液體樣品的制備方法 210
§11.5 富集技術(shù)在樣品制備中的應(yīng)用 213
參考文獻(xiàn) 216
第十二章 不確定度評(píng)定 218
§12.1 基礎(chǔ)知識(shí) 218
§12.2 不確定度的評(píng)定 224
§12.3 X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來(lái)源 229
§12.4 結(jié)語(yǔ) 237
參考文獻(xiàn) 237
第五篇 化學(xué)計(jì)量學(xué)和化學(xué)態(tài)分析
第十三章 化學(xué)計(jì)量學(xué)研究在X射線熒光分析中的應(yīng)用 238
§13.1 概述 238
§13.2 基體校正方程與化學(xué)計(jì)量學(xué)之間的關(guān)系 238
§13.3 偏最小二乘法 239
§13.4 因子分析 240
§13.5 模式識(shí)別 241
§13.6 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 243
§13.7 知識(shí)工程 244
參考文獻(xiàn) 245
第十四章 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應(yīng)用 247
§14.1 概述 247
§14.2 高分辨率X射線熒光光譜儀 248
§14.3 普通波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀分辨率的測(cè)定及改善 249
§14.4 譜處理方法 251
§14.5 X射線熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應(yīng)用 254
參考文獻(xiàn) 262
附錄 263
附錄1 吸收限波長(zhǎng)和臨界激發(fā)能量 263
附錄2 特征X射線波長(zhǎng)和能量 266
附錄3 輻射躍遷幾率 272
附錄4 K系伴線波長(zhǎng)（A） 275
附錄5 熒光產(chǎn)額和Coster-Kronig躍遷幾率 277
附錄6 以*式計(jì)算光電吸收截面（靶/原子） 282
附錄7 以*式計(jì)算非相干碰撞截面（靶/原子） 288
附錄8 以*式計(jì)算相干碰撞截面（靶/原子） 290
附錄9 低能Ka線總質(zhì)量吸收系數(shù) 292
附錄10 特征X射線Siegbahn標(biāo)識(shí)和IUPAC標(biāo)識(shí)之間對(duì)應(yīng)關(guān)系 295