《X射線(xiàn)多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門(mén)》一書(shū)自2016年出版至今已有七年，迄今已重印4次。目前，書(shū)中的部分網(wǎng)站鏈接失效，部分引用數(shù)據(jù)已更新。另外，也有讀者建議增加其他的操作內(nèi)容，以豐富圖書(shū)的內(nèi)容。修訂時(shí)，主要更新了一些網(wǎng)站鏈接以及部分引用數(shù)據(jù)，同時(shí)明確了軟件和教程下載二維碼的所在頁(yè)數(shù)。增加了采用GS

《材料X射線(xiàn)衍射基礎(chǔ)與實(shí)踐》根據(jù)“教育部高等學(xué)校材料類(lèi)專(zhuān)業(yè)教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)規(guī)劃教材”建設(shè)項(xiàng)目的要求，博采同類(lèi)教材眾長(zhǎng)并結(jié)合編者多年教學(xué)和科研心得，從學(xué)生學(xué)習(xí)角度整合教材內(nèi)容，教材深挖教學(xué)重點(diǎn)、剖析難點(diǎn)，不僅著眼于學(xué)生基礎(chǔ)知識(shí)結(jié)構(gòu)的構(gòu)建，更注重學(xué)生思考能力的培養(yǎng)。本書(shū)內(nèi)容的安排如下：第1章緒論，闡述該課程在材料科學(xué)與工程專(zhuān)

本書(shū)為工業(yè)和信息化部“十四五”規(guī)劃教材，主要介紹晶體學(xué)基礎(chǔ)與X射線(xiàn)在材料結(jié)構(gòu)、形貌和成分方面的分析技術(shù)。其中，結(jié)構(gòu)分析技術(shù)包括X射線(xiàn)的物理基礎(chǔ)、衍射原理、物相分析、織構(gòu)分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯(cuò)分析、層錯(cuò)分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內(nèi)應(yīng)力分析、點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)量與熱處理分析等；形貌分析技術(shù)即三維X射線(xiàn)顯

本書(shū)系統(tǒng)講解了晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)、X射線(xiàn)衍射基本理論以及X射線(xiàn)衍射在晶體材料取向分析、應(yīng)力分析、物相分析、織構(gòu)分析等方面的應(yīng)用。全書(shū)通過(guò)詳細(xì)的圖解對(duì)抽象的理論知識(shí)、重點(diǎn)和難點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)講解；對(duì)當(dāng)代各種新技術(shù)、新方法做出了富有前瞻性的分析和介紹，力求幫助讀者能夠輕松愉快的學(xué)習(xí)。

本書(shū)全面介紹了各種現(xiàn)代衍射方法，注重實(shí)踐案例，特別是在原位測(cè)量方面，旨在使讀者深入了解現(xiàn)代衍射技術(shù)的廣泛應(yīng)用，尤其是與當(dāng)今材料科學(xué)的密切結(jié)合，在科學(xué)研究中發(fā)揮著日益強(qiáng)大的作用�！禕R》全書(shū)共分四部分，第一部分是衍射揭示晶體結(jié)構(gòu)信息，包括單晶結(jié)構(gòu)解析（第1章）、粉末衍射全譜精修（第2章）和非晶、無(wú)序晶體、納米晶的全散射分

隨著計(jì)算機(jī)科學(xué)的飛速發(fā)展，計(jì)算機(jī)模擬手段已在物理學(xué)的研究中發(fā)揮著重要作用。近年來(lái)，作為探索新材料的有效途徑，晶體結(jié)構(gòu)預(yù)測(cè)方法日益受到廣泛關(guān)注。本書(shū)以作者多年的研究成果為基礎(chǔ)，結(jié)合國(guó)內(nèi)外**研究進(jìn)展，梳理和總結(jié)了晶體結(jié)構(gòu)預(yù)測(cè)方法在新型功能材料設(shè)計(jì)領(lǐng)域及地球物理領(lǐng)域的研究現(xiàn)狀和應(yīng)用。本書(shū)主要介紹了晶體結(jié)構(gòu)預(yù)測(cè)方法及其在超硬

本書(shū)內(nèi)容分為四部分：（1）數(shù)據(jù)測(cè)量方法。介紹粉末X射線(xiàn)衍射實(shí)驗(yàn)設(shè)備、樣品制備方法與技巧；（2）數(shù)據(jù)處理軟件操作：講解X射線(xiàn)衍射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理軟件Jade的基本操作方法；（3）X射線(xiàn)衍射傳統(tǒng)分析方法：物相定性分析、定量分析、結(jié)晶度、點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)量、晶粒尺寸與微觀(guān)應(yīng)變、殘余應(yīng)力計(jì)算；（4）Rietveld全譜擬合精修方法：

《Olex2軟件單晶結(jié)構(gòu)解析及晶體可視化》介紹單晶解析基礎(chǔ)理論，應(yīng)用圖形界面化程序Olex2為平臺(tái)，解析單晶結(jié)構(gòu)。運(yùn)用包括最通用和經(jīng)典的DirectMethods，PattersonMethod兩種算法，以及新發(fā)展的ChargeFlipping，IntrinsicPhasing，StructureExpansion和D

本書(shū)是作者在多年的科研和教學(xué)基礎(chǔ)上積累而成。運(yùn)用幾何學(xué)的概念和方法系統(tǒng)地分析和推導(dǎo)晶體的對(duì)稱(chēng)性原理及晶體的衍射原理，給讀者以鮮明的立體概念，便于理解、掌握和應(yīng)用。全書(shū)共分為三部分:幾何晶體學(xué)基本原理、微觀(guān)空間對(duì)稱(chēng)原理和晶體中X射線(xiàn)衍射基本原理。第一、二篇運(yùn)用一般位置等效點(diǎn)系中的等效點(diǎn)在空間的對(duì)稱(chēng)分布與空間對(duì)稱(chēng)性相一致的

本書(shū)主要介紹了X射線(xiàn)晶體衍射的基本原理，晶體的培養(yǎng)與衍射數(shù)據(jù)的收集，晶體結(jié)構(gòu)解析與精修的基本概念、結(jié)果的表達(dá)，有關(guān)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)和軟件資源，結(jié)構(gòu)解析的實(shí)際例子及常用軟件的使用方法等。本書(shū)結(jié)合作者多年從事晶體結(jié)構(gòu)分析所積累的經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)了結(jié)構(gòu)解析過(guò)程中常見(jiàn)的問(wèn)題與解決方法，并提供了**的有關(guān)文獻(xiàn)資料。作者對(duì)*版進(jìn)行增刪、修