第一章X射線衍射分析/001
實(shí)驗(yàn)1X射線多晶衍射儀的構(gòu)造、原理與使用001
實(shí)驗(yàn)2物相定性分析008
實(shí)驗(yàn)3物相定量分析013
實(shí)驗(yàn)4點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定016
實(shí)驗(yàn)5結(jié)晶度測(cè)定020
實(shí)驗(yàn)6微觀應(yīng)變與晶粒尺寸的測(cè)定024
實(shí)驗(yàn)7表面殘余應(yīng)力的測(cè)定027
實(shí)驗(yàn)8多晶織構(gòu)的測(cè)定030
實(shí)驗(yàn)9X射線小角衍射分析033
實(shí)驗(yàn)10納米顆粒尺寸與介孔孔徑分布分析036
實(shí)驗(yàn)11薄膜物相定性分析040
實(shí)驗(yàn)12薄膜厚度測(cè)定043
實(shí)驗(yàn)13外延生長(zhǎng)膜分析048
實(shí)驗(yàn)14原位X射線衍射分析051

第二章電子顯微分析/054
實(shí)驗(yàn)15掃描電子顯微鏡的構(gòu)造、工作原理與使用054
實(shí)驗(yàn)16掃描電鏡形貌分析057
實(shí)驗(yàn)17背散射電子衍射分析062
實(shí)驗(yàn)18透射電鏡的構(gòu)造、工作原理與使用066
實(shí)驗(yàn)19透射電鏡樣品的制備069
實(shí)驗(yàn)20透射電鏡典型組織觀察073
實(shí)驗(yàn)21選區(qū)電子衍射操作及衍射花樣標(biāo)定075
實(shí)驗(yàn)22透射電鏡高分辨像的成像操作與觀察080

第三章譜學(xué)分析/083
實(shí)驗(yàn)23能譜儀元素定性與成分分布分析083
實(shí)驗(yàn)24俄歇電子能譜分析086
實(shí)驗(yàn)25X射線光電子能譜分析089
實(shí)驗(yàn)26電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析（ICP-OES）093
實(shí)驗(yàn)27電感耦合等離子體質(zhì)譜分析（ICP-MS）097
實(shí)驗(yàn)28紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)102
實(shí)驗(yàn)29激光共聚焦拉曼光譜分析111
實(shí)驗(yàn)30紫外-可見(jiàn)吸收光譜分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)116
實(shí)驗(yàn)31核磁共振波譜分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)122
實(shí)驗(yàn)32分子熒光分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)128

第四章其他現(xiàn)代分析測(cè)試方法/133
實(shí)驗(yàn)33原子力顯微鏡分析133
實(shí)驗(yàn)34同步熱分析138
實(shí)驗(yàn)35納米壓痕測(cè)量實(shí)驗(yàn)142
實(shí)驗(yàn)36激光粒度分析與Zeta電位測(cè)量146
實(shí)驗(yàn)37正電子在材料中湮沒(méi)的壽命測(cè)量與分析151