第1章常用電子元器件的識(shí)別(1)
1.1電阻器的簡(jiǎn)單識(shí)別(1)
1.2電容器的簡(jiǎn)單識(shí)別(4)
1.3半導(dǎo)體元件的簡(jiǎn)單識(shí)別(6)
1.4半導(dǎo)體集成電路(8)
第2章電子線路實(shí)驗(yàn)(15)
實(shí)驗(yàn)1電子電路測(cè)試基礎(chǔ)(15)
實(shí)驗(yàn)2半導(dǎo)體元器件應(yīng)用(23)
實(shí)驗(yàn)3單級(jí)阻容耦合共射放大電路(31)
實(shí)驗(yàn)4共射�补布�晶體管放大電路(37)
實(shí)驗(yàn)5基本運(yùn)算放大電路及其應(yīng)用(44)
實(shí)驗(yàn)6RC有源濾波電路設(shè)計(jì)(50)
實(shí)驗(yàn)7正弦波產(chǎn)生電路設(shè)計(jì)(56)
實(shí)驗(yàn)8直流穩(wěn)壓電源(60)
實(shí)驗(yàn)9TTL與非門(mén)特性測(cè)試與分析(66)
實(shí)驗(yàn)10組合邏輯電路的設(shè)計(jì)(72)
實(shí)驗(yàn)11JK觸發(fā)器及其應(yīng)用設(shè)計(jì)(77)
實(shí)驗(yàn)12集成計(jì)數(shù)器、譯碼及顯示電路設(shè)計(jì)(81)
實(shí)驗(yàn)13集成加法器、譯碼器、數(shù)據(jù)選擇器應(yīng)用設(shè)計(jì)(90)
實(shí)驗(yàn)14集成計(jì)數(shù)器、數(shù)值比較器、數(shù)據(jù)選擇器應(yīng)用設(shè)計(jì)(98)
實(shí)驗(yàn)15數(shù)/模轉(zhuǎn)換及計(jì)數(shù)器的應(yīng)用(102)
實(shí)驗(yàn)16定時(shí)器555及其應(yīng)用(108)
第3章基于FPGA的數(shù)字電路設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)(115)
實(shí)驗(yàn)1現(xiàn)代電子技術(shù)設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(116)
實(shí)驗(yàn)2組合電路的Verilog HDL設(shè)計(jì)(134)
實(shí)驗(yàn)3時(shí)序電路的Verilog HDL設(shè)計(jì)(140)
實(shí)驗(yàn)4序列檢測(cè)器設(shè)計(jì)(147)
第4章Multisim在電子技術(shù)中的應(yīng)用(159)
仿真1半導(dǎo)體元器件特性曲線的測(cè)量(169)
仿真2負(fù)反饋對(duì)放大電路的影響(172)
仿真3低頻功率放大電路(178)
仿真4電壓比較器(181)
仿真5波形產(chǎn)生電路(186)
仿真6門(mén)電路的仿真分析(192)
仿真7時(shí)序邏輯電路的仿真分析(198)
第5章電子線路課程設(shè)計(jì)(202)
5.1電路的設(shè)計(jì)方法(202)
5.2電路的故障檢查和排除(204)
設(shè)計(jì)1數(shù)字電子鐘設(shè)計(jì)(205)
設(shè)計(jì)2數(shù)字頻率計(jì)設(shè)計(jì)(210)
設(shè)計(jì)38路競(jìng)賽搶答器設(shè)計(jì)(215)
設(shè)計(jì)4音響電路設(shè)計(jì)(第12)
附錄ADE2��115系統(tǒng)資源(第16)
附錄B課程設(shè)計(jì)報(bào)告撰寫(xiě)要求(233)
參考文獻(xiàn)(234)