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中國電子信息工程科技發(fā)展研究——測量計量與儀器專題

中國電子信息工程科技發(fā)展研究——測量計量與儀器專題

定  價:88 元

        

  • 作者:中國信息與電子工程科技發(fā)展戰(zhàn)略研究中心
  • 出版時間:2022/9/1
  • ISBN:9787030730817
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:TH71 
  • 頁碼:184
  • 紙張:
  • 版次:31
  • 開本:A5
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讀者對象:對國家不同層面和不同領域的各界專家學者、工程科技管理人才、科研工作者、在校相關專業(yè)學生的工作和學習具有較高的參考價值。

精密測量與儀器技術是支撐科技創(chuàng)新、科技進步與工業(yè)高質量發(fā)展的重要基礎。本書旨在分析和研判測量計量與儀器領域年度科技發(fā)展動態(tài)與發(fā)展趨勢,為梳理和規(guī)劃該領域的發(fā)展方向奠定基礎。本書綜合闡述了當前若干子領域的重要進展,如三維共焦顯微測量技術與儀器、高性能原子鐘技術、新冠病毒抗體測量技術、真空測試計量技術、毫米波太赫茲儀器與計量技術、智能制造高性能視覺檢測成套技術及裝備、工業(yè)CT、大量程納米位移測量技術等;也介紹了國內外相關技術的重要突破和技術成果;從全球發(fā)展態(tài)勢著眼,聚焦領域熱點亮點,力圖展現(xiàn)從全球發(fā)展態(tài)勢著眼,聚焦領域熱點亮點,新進展、新特點、新趨勢,為我國新一代國家測量體系建設和儀器產業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略規(guī)劃提供參考。

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