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基于TSV的三維堆疊集成電路的可測性設(shè)計(jì)與測試優(yōu)化技術(shù)

基于TSV的三維堆疊集成電路的可測性設(shè)計(jì)與測試優(yōu)化技術(shù)

定  價(jià):129 元

叢書名:半導(dǎo)體與集成電路關(guān)鍵技術(shù)叢書

        

  • 作者:(美)布蘭登·戴(Brandon Noia),(美)蔡潤波(Krishnendu Chakrabarty)著
  • 出版時(shí)間:2024/5/1
  • ISBN:9787111753643
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN402 
  • 頁碼:14,221頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:24cm
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讀者對象:3D堆疊集成電路測試的從業(yè)人員

本書首先對3D堆疊集成電路的測試基本概念、基本思路方法,以及測試中面臨的挑戰(zhàn)進(jìn)行了詳細(xì)的論述;討論了晶圓與存儲器的配對方法,給出了用于3D存儲器架構(gòu)的制造流程示例;詳細(xì)地介紹了基于TSV的BIST和探針測試方法及其可行性;此外,本書還考慮了可測性硬件設(shè)計(jì)的影響并提出了一個(gè)利用邏輯分解和跨芯片再分配的時(shí)序優(yōu)化的3D堆疊集成電路優(yōu)化流程;最后討論了實(shí)現(xiàn)測試硬件和測試優(yōu)化的各種方法。
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