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現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)(普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材)

現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)(普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材)

定  價(jià):39.8 元

叢書(shū)名:普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材

        

  • 作者:王文生 等著
  • 出版時(shí)間:2013/7/1
  • ISBN:9787111419747
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁(yè)碼:313
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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  《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》側(cè)重于把各種光學(xué)測(cè)試技術(shù)與CCD等現(xiàn)代探測(cè)器、EALCD空間光調(diào)制器和計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合,故所討論的方法具有實(shí)時(shí)化、自動(dòng)化和數(shù)字化特點(diǎn)。為了提高測(cè)試精度,《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》中引入了數(shù)字圖像處理算法,并把各種算法,包括傅里葉變換、小波變換、拉普拉斯、綜合識(shí)別函數(shù)等成功地應(yīng)用于相關(guān)探測(cè)、全息測(cè)試、散斑測(cè)試等中,使光學(xué)、專業(yè)數(shù)學(xué)和計(jì)算機(jī)學(xué)相結(jié)合。本書(shū)中的許多測(cè)試實(shí)例是作者科研團(tuán)隊(duì)和國(guó)內(nèi)外許多專家的科研成果,故本書(shū)將理論與測(cè)試實(shí)踐緊密結(jié)合,所討論的方法具有實(shí)用性和先進(jìn)性。全書(shū)的章、節(jié)、目、圖和專業(yè)詞匯均用英語(yǔ)標(biāo)出,且每章均給出英語(yǔ)專業(yè)詞匯列表,以利于雙語(yǔ)教學(xué)和文獻(xiàn)查閱。
  全書(shū)共分十章,內(nèi)容包括:干涉測(cè)試基礎(chǔ),單頻干涉術(shù),雙頻干涉術(shù),莫爾干涉術(shù),全息術(shù),全息干涉術(shù),全信息測(cè)量技術(shù),散斑干涉術(shù),光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù),光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器。每章末均附有習(xí)題。
  《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》主要適用于光電信息工程、精密儀器與測(cè)試專業(yè)的本科生和研究生,同時(shí)也可供相關(guān)科研工作者參考。
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