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當(dāng)代光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)概論

當(dāng)代光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)概論

定  價(jià):98 元

叢書名:光電技術(shù)系列叢書

        

  • 作者:主編楊照金
  • 出版時(shí)間:2013/1/1
  • ISBN:9787118084672
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁(yè)碼:xvi, 451頁(yè)
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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讀者對(duì)象:本書可作為光學(xué)工程專業(yè)博士、碩士研究生和本科生的教學(xué)參考書

  《當(dāng)代光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)概論》簡(jiǎn)要介紹光學(xué)量子計(jì)量技術(shù)和非常規(guī)量限光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)基本概念、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量方法。光學(xué)量子計(jì)量技術(shù)主要介紹量子基準(zhǔn)的基本概念和典型量子計(jì)量基準(zhǔn),重點(diǎn)介紹光學(xué)量子計(jì)量相關(guān)的內(nèi)容,包括雙光子相關(guān)計(jì)量技術(shù)、單光子探測(cè)技術(shù)、光子計(jì)數(shù)技術(shù)、單光子成像計(jì)量技術(shù)、量子長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)、量子時(shí)間計(jì)量技術(shù)和納米計(jì)量技術(shù)等。非常規(guī)量限光學(xué)計(jì)量主要介紹非常規(guī)量限光學(xué)計(jì)量測(cè)試的基本概念、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量方法,涉及了真空紫外與極紫外、高能激光參數(shù)、超短激光脈沖特性參數(shù)、大口徑光學(xué)元件與系統(tǒng)參數(shù)、微光學(xué)參數(shù)、高反射光學(xué)薄膜參數(shù)、大口徑光學(xué)材料參數(shù)等。 
  《當(dāng)代光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)概論》可作為光學(xué)工程專業(yè)博士、碩士研究生和本科生的教學(xué)參考書,亦可作為從事光學(xué)計(jì)量測(cè)試人員的業(yè)務(wù)參考書。
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